《亞微米及納米級(jí)顆粒粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的研制》征求意見(jiàn)

　　【儀表網(wǎng) 儀表標(biāo)準(zhǔn)】8月5日，全國(guó)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)計(jì)量技術(shù)委員會(huì)發(fā)布了《亞微米及納米級(jí)顆粒粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的研制》技術(shù)規(guī)范征求意見(jiàn)稿，現(xiàn)公開(kāi)征求大家意見(jiàn)，意見(jiàn)反饋郵箱luxh@nim.ac.cn。
 

　　中國(guó)已成為當(dāng)今世界納米科學(xué)與技術(shù)進(jìn)步重要的貢獻(xiàn)者，是世界納米科技研發(fā)大國(guó)。中國(guó)納米科技應(yīng)用研究與成果轉(zhuǎn)化的成效也已初步顯現(xiàn)。因此，及時(shí)開(kāi)展納米材料標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的研制及規(guī)范制訂，實(shí)現(xiàn)與納米材料、器件基本物性和功能特性相關(guān)的物理量的準(zhǔn)確測(cè)量與量值傳遞，對(duì)納米科技的基礎(chǔ)研究與應(yīng)用成果轉(zhuǎn)化都具有極為重要的意義。
 

　　作為納米計(jì)量工作的重要內(nèi)容，納米材料標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的研制具有顯著的創(chuàng)新性、特殊性和重要性。納米材料標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)主要用于微納測(cè)量領(lǐng)域設(shè)備的校準(zhǔn)、與納米材料功能相關(guān)特性量的傳遞及相關(guān)檢測(cè)方法的評(píng)價(jià)，其研制與應(yīng)用具有一定領(lǐng)域特點(diǎn)。十三五計(jì)量規(guī)劃中明確提出，要加強(qiáng)食品安全、臨床檢驗(yàn)及新材料科學(xué)等重點(diǎn)領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研究與規(guī)范建立。亞微米及納米級(jí)顆粒粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)在研制數(shù)量、研制種類、應(yīng)用范圍幾個(gè)方面均已形成一定規(guī)模和成熟度，其研制具有一定規(guī)律性。由于亞微米及納米級(jí)顆粒種類繁多、應(yīng)用面廣，需要依據(jù)顆粒尺寸范圍、顆粒品種、應(yīng)用方向等方面系統(tǒng)研究相關(guān)定值技術(shù)。及時(shí)建立亞微米及納米
 

　　級(jí)顆粒粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制規(guī)范，對(duì)后續(xù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的高質(zhì)量、高效率研制具有指導(dǎo)意義和支撐作用，對(duì)納米材料的基礎(chǔ)研究、規(guī)模化發(fā)展與規(guī)范推廣，具有重要意義。
 

　　本規(guī)范的編寫(xiě)符合 JJF1342《標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制(生產(chǎn))機(jī)構(gòu)通用要求》、JJF1343《標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)定值的通用原則及統(tǒng)計(jì)學(xué)原理》和 JJF1071《國(guó)家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫(xiě)規(guī)則》的要求，并結(jié)合了亞微米及納米級(jí)顆粒粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的特點(diǎn)制定。使用本規(guī)范時(shí)，應(yīng)同時(shí)執(zhí)行上述相關(guān)規(guī)范。
 

　　本規(guī)范引用的文件有JJF1001 通用計(jì)量術(shù)語(yǔ)及定義；JJF1005 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)常用術(shù)語(yǔ)和定義；JJF1059.1 測(cè)量不確定度的評(píng)定與表示；JJF1186 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)證書(shū)和標(biāo)簽要求；JJF1218 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制報(bào)告編寫(xiě)規(guī)則；JJF1342 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制(生產(chǎn))機(jī)構(gòu)通用要求；JJF1343 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)定值的通用原則及統(tǒng)計(jì)學(xué)原理；GB/T 6379 測(cè)量方法與結(jié)果的準(zhǔn)確度(正確度和精密度)(ISO 5725，IDT)；GB/T 16418-2008 顆粒系統(tǒng)術(shù)語(yǔ)；GB/T 21649.1-2008 粒度分析圖像分析法第 1 部分：靜態(tài)圖像分析法(ISO 13322-1：2004，MOD)；GB/T 27788-2011 微束分析掃描電鏡圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則(ISO 16700：2004，IDT)等。
 

　　本規(guī)范規(guī)定了亞微米及納米級(jí)顆粒粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)候選物的選取和分裝、均勻性研究、穩(wěn)定性研究、定值、不確定度評(píng)定、包裝與存儲(chǔ)、研制報(bào)告和證書(shū)的要求。
 

　　本規(guī)范適用于采用電子顯微成像技術(shù)和原子力顯微成像技術(shù)定值、粒度分布標(biāo)準(zhǔn)偏差小于 10%的亞微米及納米級(jí)顆粒粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的研制，其它顆粒粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的研制可參考本規(guī)范。(詳情請(qǐng)見(jiàn)附件)