* 流量計 導波雷達物位計

           導波雷達物位計    

原 理：

導波雷達發出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質，由于介電常數突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測介質的距離成正比。

特 點：

由于采用了*的微處理器和*的choDiscovery回波處理技術，導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。

多種過程連接方式及探測組件的型式，使得60X系列導波雷達物位計適用于各種復雜工況及應用場合。如：高溫、高壓及小介電常數介質等。

采用脈沖工作方式，導波雷達物位計發射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內，對人體及環境均傷害。

說 明

導波雷達是基于時間行程原理的測量儀表，雷達波以光速運行，運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。探頭發出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳播，當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內的接收器接收，并將距離信號轉化為物位信號。

反射的脈沖信號沿纜式或桿式探頭傳導至儀表電子線路部分，微處理器對此信號進行處理，識別出微波脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由脈沖軟件完成，距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T成正比：

     D=C×T/2

其中C為光速

因空罐的距離E已知，則物位L為：

L=E-D

通過輸入空罐高度E（=零點），滿罐

高度F（=滿量程）及一些應用參數來

設定，應用參數將自動使儀表適應測

量環境，對應于4－20mA輸出。

測量范圍：

說明：

H----測量范圍

L----空罐距離

B----頂部盲區

E----探頭到罐壁的zui小距離

頂部盲區是指物料zui高料面與測量參考點之間的zui小距離。

底部盲區是指纜繩zui底部附近無法精確測量的一段距離。

頂部盲區和底部盲區之間是有限測量距離。

注意：

只有物料處于頂部盲區和底部盲區

之間時，才能保證罐內物位的可靠測量。

* 流量計 導波雷達物位計

* 流量計 導波雷達物位計