電子元器件低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱用途:
該設(shè)備主要是測(cè)試產(chǎn)品在高溫、低溫、濕熱的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能,主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、低溫、濕熱的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試后,通過鑒定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)使用。
電子元器件低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱 技術(shù)參數(shù):
溫度范圍 -70~150℃
濕度范圍 10~98%R.H
溫度波動(dòng)度 ≤±0.5℃
濕度波動(dòng)度 ≤±2%R.H
溫度均勻度 ≤±2℃
濕度均勻度 ≤±3%R.H(相對(duì)濕度>75%R.H時(shí)) ;≤±5%R.H(相對(duì)濕度≤75%R.H時(shí))
調(diào)溫調(diào)濕方式 BT(H)C平衡調(diào)溫(調(diào)濕)方式
電子元器件低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱 技術(shù)功能:
1.在研制階段用以試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況;
2.生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息;
3.對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收;
4.和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理;
5.為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性,制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案,為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。
使用環(huán)境溫度 +5℃~35℃
保溫圍護(hù)結(jié)構(gòu) SUS304不銹鋼板復(fù)合拼裝板—耐溫度應(yīng)力保溫材料—噴塑彩色鋼板
1、溫濕度環(huán)境試驗(yàn)箱系列
包括:高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,冷熱沖擊試驗(yàn)箱,高溫試驗(yàn)箱,低溫試驗(yàn)箱,儀表可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱,高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱等。
2、耐氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備、老化試驗(yàn)設(shè)備系列
包括:氙燈耐氣候老化試驗(yàn)箱,紫外老化試驗(yàn)箱,淋雨試驗(yàn)箱,老化試驗(yàn)箱,蒸汽老化試驗(yàn)箱,臭氧老化試驗(yàn)箱,砂塵試驗(yàn)箱等。
3、鹽霧試驗(yàn)箱系列
包括:型鹽霧試驗(yàn)箱,(以上鹽霧試驗(yàn)箱皆為智能型可程式全自動(dòng)鹽霧試驗(yàn)箱);復(fù)合式鹽霧試驗(yàn)箱(溫度/濕度/鹽霧試驗(yàn)機(jī))
4、振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)、跌落試驗(yàn)臺(tái)系列
包括:電磁式振動(dòng)臺(tái),機(jī)械式振動(dòng)臺(tái),模擬運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái),可程式運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái),掃頻式電磁振動(dòng)臺(tái),電磁式垂直/水平振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái),跌落試驗(yàn)機(jī)等。
鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱,氙燈老化試驗(yàn)箱,紫外老化試驗(yàn)箱,臭氧老化試驗(yàn)箱,熱老化試驗(yàn)箱,換氣式老化試驗(yàn)箱,老化試驗(yàn)箱,沙塵試驗(yàn)箱,砂塵試驗(yàn)箱,箱式淋雨試驗(yàn)箱,電熱恒溫培養(yǎng)箱,生化培養(yǎng)箱,霉菌培養(yǎng)箱,二氧化碳培養(yǎng)箱,光照培養(yǎng)箱,藥物穩(wěn)定試驗(yàn)箱,振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái),高低溫試驗(yàn)箱,高低溫交變?cè)囼?yàn)箱,高低溫濕熱試驗(yàn)箱,高溫恒溫溫試驗(yàn)箱,高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)箱,低溫試驗(yàn)箱,冷熱沖擊試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度變化試驗(yàn)箱,鹽霧試驗(yàn)箱
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