理想IDEALSIGNALTEK（SIGNALTEK-FO，LANTEK PoE，VDV，多媒體線纜測試儀，62-164，音頻探針）線纜性能測試儀
技術指標
除了線纜性能測試，SIGNALTEK可配置成一次運行幾分鐘或幾小時進行誤碼率測試。SIGNALTEK可重點測試臨界網絡鏈路，通過在網絡中發送上百個千兆比特數據幀，尋找數據包丟失情況，找到其它儀器難于發現的網絡間歇問題。采樣新一代千兆以太網技術，IDEAL的創新，賦予SIGNALTEK佳性能。
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接口
－USB接口 A/B型，直流電源接口
－屏蔽型RJ-45接口：支持10/100/1000Mbps以太網連接
－SFP接口：支持SFP型激光模塊，850nm及1300nm波長，1000Mbps以太網
SFP-850nm激光模塊
－Class1激光，符合EN60825-1規定
－兼容光纖類型：50/125μm、62.5/125μm多模光纖
－輸出功率（dBm）：小-9.5，大-3
－接收功率范圍（dBm）：0～-20
－大鏈路長度：50/125μm光纖：550m、62.5/125μm光纖：300m
－使用溫度：-10~80℃，相對濕度85％
SFP-13X0nm激光模塊
－Class1激光，符合EN60825-1規定
－兼容光纖類型：50/125μm、62.5/125μm多模光纖，9/125μm單模光纖
－輸出功率（dBm）：小-9，大-2.5
－接收功率范圍（dBm）：0～-22
－大鏈路長度：50/125μm光纖：550m
62.5/125μm光纖：300m
9/125μm單模光纖：10km
－使用溫度：-10~80℃，相對濕度85％
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SIGNALTEK線纜性能測試儀產品特點
光纖與銅纜千兆性能測試－按IEEE 802.3標準，對光纖與銅纜鏈路進行測試
·多媒體千兆性能測試－測試VoIP、視頻、網頁瀏覽等業務在光纖上的應用
·誤碼率BERT及光衰減測試－對光鏈路進行比特錯誤率測試，并測量光功率衰減值
·雙波長測量－支持使用850nm和1300nm波長的所有局域網光鏈路測試應用
·使用小型可插拔光模塊（SFP）－小巧、現場可更換
·存儲數千條測試報告－使用內存或U盤存儲測試報告以供打印。
長度測量
－RJ-45接口：TDR長度測量1－4對銅纜：140m
－SFP接口：不能測量光纖長度
誤碼率測試
－銅纜：按IEEE802.3ab標準測試10/100/1000Mbps誤碼率
－光纖：按IEEE802.3ab標準測試1000Mbps誤碼率
電池壽命：（標準堿性電池）
－銅纜測試：約15小時（22個測試/小時，45s/自動測試）
－光纖測試：建議使用交流電源供電
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SIGNALTEKTM-FO標準附件
- 主機與遠端機
- 便攜包
- 銅纜測試附件包，含：接頭為RJ-45、RJ-11、同軸電纜F型端子和鱷魚夾的測試線
- 光纖測試附件包，含：2條雙向LC-SC 50/125μm 2m光纖跳線，2條雙向LC-SC 62.5/125μm 2m光纖跳線，1個雙向SC-SC適配器
- 8節5號電池
- 2個交流電源適配器
- USB通信線
- 1張用戶手冊CD盤
- 1張DVD培訓盤
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| 部件描述 | 型號 |
| SIGNALTEKTM-FO 配2個850nm模塊 | 33－984 |
| SIGNALTEKTM-FO 配2個13X0nm模塊 | 33－985 |
| SIGNALTEKTM-FO 配850nm及13X0nm模塊 | 33－986 |
| SIGNALTEKTM-FO 有接口但不配光模塊 | 33－988 |
| 1對850nmSFP模塊 | SFP－850 |
| 1對13X0nmSFP模塊 | SFP－13X0 |
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