冷熱沖擊試驗(yàn)箱原器件價(jià)格圖片
冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。
該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)指標(biāo):
1 、溫度范圍:-70℃、-40℃、-20℃~+150℃
2 、濕度范圍:30%~98%RH
3 、溫度波動(dòng)度:±0.5℃
4 、溫度偏差:≤2℃
5 、濕度偏差:+2-3 %RH
6 、升降溫速率:0.7~1℃/min
冷熱沖擊試驗(yàn)箱型號(hào)與參數(shù)()
型號(hào) ㎜ 工作尺寸 外型尺寸
TS-800 800×1000×1000 1450×1480×2300
TS-100 450×450×500 1150×900×1650.
TS-225 500×600×750 1200×1100×1900
TS-500 700×800×900 1350×1280×2200
TS-1000 1000×1000×1000 1650×1480×2300
冷熱沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)而制造的:
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
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艾思荔相關(guān)產(chǎn)品:三綜合振動(dòng),雙翼跌落試驗(yàn)儀,高低溫交變濕熱試驗(yàn)機(jī)價(jià)格