產品型號：XRF-2000
產品簡介：
韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能*,而且價錢*.只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.
| 金屬鍍層測厚儀；熒光X線膜厚計；熒光膜厚計；韓國鍍層測厚儀；熒光X線鍍層測厚儀 | |||
| 產品型號： | XRF-2000 | ||
| 產品簡介： | |||
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| 主要技術參數： | |||
| 可測元素范圍： | |||
| 鈦（Ti） – 鈾（U） | |||
| 可測量厚度范圍： | |||
| 原子序 22-25，0.1-0.8μm | |||
| 26-40，0.05-35μm | |||
| 43-52，0.1-100μm | |||
| 72-82，0.05-5μm | |||
| X-射線管：油冷,超微細對焦 | |||
| 高壓：0-50KV（程控） | |||
| 準直器： | |||
| 固定種類大小：可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm | |||
| 自動種類大小：可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm | |||
| 電腦系統：IBM相容,17”顯示器 | |||
| 綜合性能：鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 | |||
| 鍍層分析：可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層. | |||
| 鍍液分析：可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡單的核對方式,無需購買標準藥液. | |||
| 定性定量分析：可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. | |||
| 光譜對比功能：可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度. | |||
| 統計功能：能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質. | |||
