DP-TT240 涂層測厚儀/測厚儀/數字式涂層測厚儀

涂層測厚儀/測厚儀/數字式涂層測厚儀  型號：DP-TT240

涂層測厚儀/測厚儀/數字式涂層測厚儀  型號：DP-TT240產品概述：

    本儀器是種手持式測量儀，它能快速、無損傷、地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度。可廣泛用于在制業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測域。本儀器是材料保護業(yè)的儀器。本儀器符合以下標準： GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》

涂層測厚儀/測厚儀/數字式涂層測厚儀  型號：DP-TT240功能點：

    本儀器采用了渦流測厚法，可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度（如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）
z 具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
z 具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）；
z 設有五個統計量：平均值（MEAN）、Z大值（MAX）、Z小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）；
z 可行零點校準和二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差行修正；
z 具有存貯功能：可存貯350 個測量值；
z 具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據行刪除，也可刪除存貯區(qū)內的所有數據，以便行新的測量；
z 可設置限界：對限界外的測量值能自動報警；
z 具有打印：可打印測量值、統計值；
z 具有與PC 機通訊的功能：可將測量值、統計值傳輸至PC 機，以便對數據行步處理；
z 具有電源欠壓指示功能；
z 操作過程有蜂鳴聲提示；
z 具有錯誤提示功能；
z 具有自動關機功能

涂層測厚儀/測厚儀/數字式涂層測厚儀  型號：DP-TT240參數：

基本配置：

z主機
z標準片套（50um 100um 200um 500um 1000um）
z鋁基體
z二節(jié)AA型（5號）1.5V電池
z儀器保護套

可選附件：DP-TA230打印機

四探針電阻率測試儀／四探針電阻率/方阻測定儀 型號：DP-2253
概述
  
      DP-2253型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。
    儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。
    主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤和數碼開關輸入；具有零位、滿度自校功能；測試功能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作成，也可脫PC機由四探針儀器面板上立操作成。測試結果數據由主機數碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！
    探頭選配：根據不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
    測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺，也可選配DP-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配DP-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。
      
    儀器具有測量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、 化程度、測量簡便、結構緊湊、使用方便等點。
    儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本參數
3.1  測量范圍
     電  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω
    電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
3.2  材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
     直    徑：DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
    DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
    長()度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
    測量方位: 軸向、徑向均可
3.3.  4-1/2 位數字電壓表：
    (1)量程： 20.00mV～2000mV
   (2)誤差：±0.1%讀數±2 字
3.4 數控恒流源
    (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A
   (2)誤差：±0.1%讀數±2 字
3.5 四探針探頭（選配其或加配全部）
    (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調
   (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調
3.6. 電源
    輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W
3.7.外形尺寸：
    主   機  220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（）
   凈   重：≤2.5kg

數字式四探針測試儀/電阻率/方阻測試儀 型號：DP-2258C
 
概述
      DP-2258C型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。 
      儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。 
主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀贈設測試結果分類功能，Z大分類10類。 
      探頭選配：根據不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。 
      測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺，也可選配DP-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配DP-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的點與選型參考》 
儀器具有測量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、 化程度、結構緊湊、使用簡便等點。 
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。 
三、基本參數
1. 測量范圍、分辨率（括號內為可向下拓展1個數量） 
    電    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω 
               （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω） 
    電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm 
               （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm） 
    方塊電阻：50.0×10-6 ～ 1.0×106 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□  
               （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□） 
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定) 
    直    徑： DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限. 
     長()度：  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     測量方位:  軸向、徑向均可 
3. 量程劃分及誤差等 
滿度顯示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 
常規(guī)量程 kΩ-cm/□ kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ --- 
Z大拓展量程 --- kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ mΩ-cm/□ 
基本誤差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB ±1.0%FSB
±4LSB
 
4.工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W 
5.外形尺寸： 245mm（長）×220 mm（寬）×95mm（）  
   凈   重：≤1.5～2.0kg

數字式四探針測試儀/電阻率/方阻測試儀　型號：DP-2258A

概述
       DP-2258A型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。
      儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。
      主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀贈設測試結果分類功能，Z大分類10類。
      探頭選配：根據不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
      測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺，也可選配DP-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配DP-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。

       儀器具有測量精度、靈敏度、穩(wěn)定性好、 化程度、結構緊湊、使用簡便等點。
       儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本參數
1. 測量范圍、分辨率（可向下拓展1～3個數量，括號內為向下拓展3個數量）
     電    阻：1.0×10-3 ～ 200.0×105  Ω,    分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×104  Ω
                （1.0×10-6 ～ 200.0×102  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×102 Ω）
     電 阻 率：1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103  Ω-cm
                （1.0×10-6 ～ 200.0×101 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.1×101  Ω-cm）
     方塊電阻：5.0×10-3 ～ 100.0×104 Ω/□  分辨率0.5×10-3 ～ 0.1×103  Ω/□ 
                （5.0×10-6 ～ 100.0×101 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×101  Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
   直    徑： DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
   DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
   長()度：  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
   測量方位:  軸向、徑向均可
3. 量程劃分及誤差等
滿度顯示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 
常規(guī)量程 kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ 
Z大拓展量程 Ω-cm/□ mΩ-cm/□ μΩ-cm/□ 
基本誤差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB

4) 工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5) 外形尺寸：W×H×L=215mm×85mm×190mm 
      凈   重：≤1.5～2.0kg

微量移液器/移液器/微量移液槍 型號：DP27026
產品參數：
1µL～10µL/20µL～200µL/100µL～1000µL/500µL～5000µL

注:產品詳細介紹資料和上面顯示產品圖片是相對應的