DP-LDS-1G 糧食水分測量儀/水分測量儀/糧食水份測量儀/水份測量儀/水份檢測儀/水分容重儀

糧食水分測量儀/水分測量儀/糧食水份測量儀/水份測量儀/水份檢測儀/水分容重儀  型號：DP-LDS-1G

DP-LDS-1G型糧食水分測定儀是DP-LDS-1H型糧食水分測定儀的升產品、在原來的基礎上增加了自動累加測量次數，計算平均值功能和容量自動換算顯示功能，其性能更穩定可靠，擁有外觀家，外形新穎美觀，與外同類產品媲美，是水分測量儀器理想的升換代產品。

容重換算：的容重取樣裝置在測量小麥的同時，可以直接換算出小麥容重指標。
糧食水分測量儀/水分測量儀/糧食水份測量儀/水份測量儀/水份檢測儀/水分容重儀  型號：DP-LDS-1G參數
測量范圍：可測量谷類、玉米、東北玉米、大麥、小麥、白小麥、大米、豆粕、花生仁、菜粕、粱、黑芝麻、棉籽、棉粕、秈谷、大豆、油菜籽、飼料、蔬菜種子等非金屬顆粒狀物質。
快速準確：數秒內即可顯示結果，測量誤差≤±0.5℅
操作簡單：20個常見品種以預定標，不需秤樣、用料簡取樣后可立即測量水分
水分測量范圍：3-35℅
使用環境溫度：0~40℃
溫度補償：自動
定 標：浮動三點定標，品種不限（常見品種20個已預定標，可直接測量）
工作電源：直流6V（5號干電池四節）
自動關機：
便攜方便：重約1千克、外型小巧、電源交直流二用，適合各種工作場合
糧食水分測量儀/水分測量儀/糧食水份測量儀/水份測量儀/水份檢測儀/水分容重儀  型號：DP-LDS-1G適合情：用戶可對本地殊品種采用本機*的三點定標法自行定標，自行修正水分值
性價比：含量，性能而價格則為同類產品Z低。

剪切擴張兩用鉗/剪切擴張鉗 型號：DP-GYJK-36.8～42.720-3

種工具同時具備剪切、擴張和牽拉功能。此鉗的功能相當于臺剪斷器和臺擴張器。

應用范圍:

交通事故救援 地震等災害救援 意外事故救援

適合機動式救援操作

撬門及使金屬結構變形

切斷金屬結構、車輛部件、管道及金屬板

點:

刀具采用可重磨的強度合金工具鋼制

剪切防崩濺與自動復位手控轉向閥，為操縱者提供安全保證

手控閥操作可使刀片的張開閉合處于任何位置，且具有自鎖功能

張開閉合耗時短，加速救援程

主要參數

項目                                  參數

剪刀端部Z大開口距離               ≥350 mm

額定工作壓力                   63Mpa（630.000bar）

Z大剪斷能力                     15 mm(鋼板) 

（Q235材料）                   ф28mm(圓鋼)

額定擴張力                     32 KN （3.2噸）

質量                                 ≤14 kg

尺寸：長×寬×                760×210×170mm 

微型速能粉碎機 能粉碎機 粉碎機 型號：DP-WWFS-Ⅱ

該機可用于破碎煤炭、焦炭、礦物質、土壤、砂、石和植物種子。適用于煤炭、焦化、地質、醫藥衛生、農業、工業的科研單位和化驗制樣室制取少量試樣用。

二、主要指標

轉子轉速：210000r/min

入料粒度：-6mm

出料粒度：≤60-120

每次入料量：≤50g

粉碎時間：3-5秒

電源：220V 50HZ

三、該產品點

1、轉速：≥10000轉/分

2、效率：50g物料僅需要3-5秒便可成粉碎，即簡便又快速。

3、密封性好；工作中沒有被粉碎的物料泄漏，使工作環境保持清潔。

4、性能穩定：可連續工作，使用壽命長。

半導體粉末電阻率測試儀/粉末電阻率測試儀 型號：DP-FZ-2006

本儀器是為了適應當前迅速發展中的分子半導電納米材料電阻率測試需要,參照有關際標準的。 儀器的電流輸出為 10 µA - 100 mA ，電阻率測試范圍為 10 ^-2 - 10 ⁵ Ω cm ，直接采用數字顯示。儀器的可靠性和

穩定性大大增強，更方便于用戶， 而且價格低廉、實惠。配置不同的測試架可以對半導體粉末、分子納米粉末和固態金屬行電阻、電阻率多用途的測量。

適用于有機、無機半導體粉末材料(包括納米)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料，別適合于太陽能多晶硅、硅粉質量的測量、分選和質量控制. 電阻率值直接數字顯示由具有精度加壓系統, 度測量的測試臺和儀器組成.

儀器主要包括電氣箱和測試架兩部分，電氣測試部分由精度直流數字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感器，加壓機構和粉末標準容器組成。壓力機構采用手動操作、壓力平穩。本儀器具有測量精度，穩定性好，重復性好，使用方便等點， 并有自校功能。

本儀器采用際通用的電流-電壓降法即四端子測量法，可以消除電與粉末接觸產生的接觸電阻誤差，還可以消除聯接系統所帶來的誤差，克服了以往傳統的二端測量粉末電阻率儀器的弊病，真實、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復性好。

本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、等院校、科研、是檢驗和分析固態、粉態和納米樣品質量的種重要工具。

參數；

1. 測量范圍：
   • 電阻 10^-4 - 10⁵ Ω, 分辨率 10^-4 Ω
   • 電阻率 10^-4 - 10⁵ Ω.cm，分辨率 10^-4 Ω.cm

測量誤差 ±（0.3% 讀數 + 2 字）

2. 測量電壓量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 µV
   測量精度: ±（0.3% 讀數 + 2 字）
3. 測量電流：0 - 100 mA 連續可調，
   電流量程：10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA
4. 試樣粒度：40 目以下 - 60 目以上（標準篩網）納米粉末
5. 試樣容器：內腔Φ16.30 ± 0.1mm
6. 試樣度：16mm ± 0.5mm
   測量誤差：±0.1mm
7. 取樣壓力：4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm2 ± 0.5 kg/cm2)
   壓力量程：0 - 100 kg 可調
8. 顯示方式: 電阻、電阻率、壓力為 3 1/2 數字顯示,并自動顯示單位和小數點
9. 電源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗
10. 外形尺寸電氣箱：440mm×120mm×320mm
11. 備有粉末測試架和固態標準樣品測試臺供選用 

半導體電阻率測試儀/電阻率測試儀/半導體電阻率測定儀(含探頭和測試架）　型號：DP-BD-86A

DP-BD-86A型半導體電阻率測試儀是我廠推出的的普及型半導體電阻率測試儀器，本儀器是根據四探針原理，適合半導體器材廠，材料廠用于測量半導體材料（片狀、棒狀）的體電阻率，方塊電阻（簿層電阻），也可以用作測量金屬薄層電阻，經過對用戶、半導體廠測試的調查，根據美ASTM標準的規定，在電路和探頭方面作了重大的修改和上的許多突破，它更適合于半導體器材廠工藝檢測方面對中值、阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要，成為普及型的電阻率測試儀，具有測量精度，穩定性好，輸入阻抗，使用方便、價格低廉等點。

   儀器主要指標：

1．  測量范圍：電阻率10^-3—10³Ω-cm，分辯率為 10^-4Ω-cm ，可擴展到10⁵Ω-cm

  方塊電阻10^-2—10⁴Ω/□，分辯率為10^-3Ω/□，可擴展到10⁶Ω/□

薄層金屬電阻10^-4—10⁵Ω，分辯率為10^-4Ω

2.可測半導體材料尺寸：直徑Φ15—Φ125mm；  長度：150mm(可擴展500mm)

     3.測量方式：軸向、斷面均可

4．數字電壓表：（1）量程：20mV(分辯率：10μV)、200mV、2V

             （2）測量誤差：±0.3%讀數±1字

             （3）輸入阻抗：大于10⁸Ω

             （4）顯示3 1/2 位紅色發光二管（LED）數字顯示

                  0---1999具有性、過載、小數點、單位自動顯示

5．恒流源：由交流供電，具有良好的防泄漏隔離功能

（1）       直流電流：0—100mA連續可調

（2）       量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

（3）       分辯率：10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA

（4）       電流誤差：±0.3%讀數±2字

6．電性能模擬考核誤差：<±0.3%符合ASTM指標

7．測試探頭：（1）探針機械游移率：± 0.3% 符合ASTM 指標

8．電源：交流220V±10%   50HZ或60HZ  功率消耗< 30W

9．電氣箱外形尺寸：119×440×320mm

注:產品詳細介紹資料和上面顯示產品圖片是相對應的