礦石分析儀（I-CHEQ）的主要特性
I-CHEQ可對(duì)各種礦石進(jìn)行多元素分析，廣泛應(yīng)用于各類(lèi)礦石的檢測(cè)和分析，還應(yīng)用于礦渣精煉分析及考古研究。礦石分析儀I-CHEQ包括銀礦、銅礦、鐵礦、錫礦、鋅礦、鎳礦、鉬礦、銥礦、砷礦、鉛礦、鈦礦、銻礦、釩礦、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石、礦渣、巖石、泥土、泥漿。被檢測(cè)的樣品可以是固體、液體、粉塵、粉末、實(shí)心體、碎片、過(guò)濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體。
I-CHEQ分析儀可以用來(lái)對(duì)各種不同類(lèi)型的礦石進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析。通過(guò)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的成熟的X射線(xiàn)管分析系統(tǒng)，*性同位素，現(xiàn)場(chǎng)分析時(shí)能做出快速而全面的礦石類(lèi)型研究，對(duì)樣品要求低，但是測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確，能準(zhǔn)確分析高濃度樣品，避免了驗(yàn)證性的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試。
I-CHEQ分析儀采用了X射線(xiàn)管光源、多光束過(guò)濾技術(shù)、以及惠普個(gè)人數(shù)位助理技術(shù)（惠普掌 上型電腦），從而使其采測(cè)范圍、檢測(cè)速度、檢測(cè)精度都非常出色，并具有*的升級(jí)潛力。
·使用了*的和多用途的x射線(xiàn)資料模式：采用康普頓常態(tài)化校正方法：可以利用“內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)”來(lái)進(jìn)行定量分析，而不需要進(jìn)行專(zhuān)門(mén)的校正。基本參數(shù)：采用半定量分析方式，適合于檢驗(yàn)各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。實(shí)驗(yàn)校正法：利用“校正曲線(xiàn)”進(jìn)行校正，允許使用用戶(hù)產(chǎn)生的校正曲線(xiàn)。
·可以很容易地加入新的元素成份，很容易進(jìn)行校正。因此，Innov-X a-4000分析儀能夠滿(mǎn)足您當(dāng)前和未來(lái)的需求。
·可以在顯示熒幕上觀看光譜。
·通過(guò)對(duì)比光譜進(jìn)行對(duì)比分析，顯示出分析結(jié)果，分析結(jié)果將反映是否符合相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的情況。
·通過(guò)更新參數(shù)或更換模式，可以利用存儲(chǔ)的試驗(yàn)結(jié)果再次進(jìn)行新的試驗(yàn)。
·資料安全性：資料以二進(jìn)位格式存儲(chǔ)于設(shè)備中，以保證資料的完整性。
可檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)元素：鈦，釩，鉻，錳，鐵，鈷，鎳，銅，鋅，銣，鍶，鋯，鈮，鉬，銀，錫，銻，鉭，鉿，鎢，鉛，鉍。
