本測量設備是用于各種材料散射特性測量。通過光源一維旋轉，探測器二維旋轉實現不同入射和反射（透射）幾何條件下樣品反射、透射輻亮度的測量。系統包括準直光源、光源支架、可調樣品支架、探測器、探測器旋轉機構、探測器支架及測試軟件等部分。
BRDF/BTDF測試儀 主要測試參數
復色光和單色光BRDF
復色光和單色光BTDF
不同角度反射透射光通量
不同角度反射透射輻射亮度
材料不同角度散射光色溫，色坐標
BRDF/BTDF測試儀 系統結構
1. 光源
為提高樣品散射信號的信噪比，采用寬光譜高亮度鹵鎢燈作為光源，并通過準直透鏡將光線準直后出射到樣品上。
可通過調節透鏡焦距，實現不同大小光斑。
光源還可增加濾光片，實現不同顏色單色光入射。
2 光源支架
通過半圓形光源支架，實現光源0-180°入射角度調節。
采用高精度步進電機，配合軟件控制，保證入射角度精確性。
3.可調樣品支架
樣品可被夾持在樣品支架上。
樣品支架可上下調節，通過光源及探測器對準標記，實現樣品位置調節及對準。
4.探測器
采用硅探測器，探測范圍300nm-1000nm。
進行散射特性**測量時，可選裝探測系統，主要包括成像光學系統、斬波器、單色儀、探測器和鎖相放大器等。成像光學系統對樣品漫射板測點成像，像位于單色儀入射狹縫。復色光進入單色儀入射狹縫經準直后由光柵分光，再經會聚鏡會聚***探測器，探測器將光信號轉換為電信號，由鎖相放大器放大并根據斬波器頻率提取信號獲得光譜DN值。
5.探測器支架及旋轉機構
探測器支架及旋轉機構，可使探測器在整個球面范圍內移動，實現對反射和透射信號測量。
采用高精度步進電機，配合軟件控制，保證反射和透射角度精確性。
6.軟件部分
為了提高測量速度和精度，特別為裝置開發了測控軟件，支持多種幾何條件下散射特性一次性自動測量。首先進行光源入射輻亮度測量，而后對樣品漫射板設定幾何條件反射輻亮度進行測量，如此循環直***完成所有設定幾何條件的散射特性測量為止，軟件直接輸出散射特性曲線。
軟件測試界面
