半導體產業供配電異常解決方案
方案介紹
半導體產業供配電異常解決方案，CET聚焦半導體產業客戶需求，提供ieter+CET DigSys供配電異常信息捕提及故障診斷分析解決方案，實時監測工藝設備電能質量并輸出電能質量評估報告。通過分布式故障錄波、擾動源定位、SEM F47容忍度分析、故障診斷分析等功能。捕捉潛在的異常擾動，預防故障發生;對于已發生的事故，能夠快速定位事故并生成診斷分析報告，協助用戶快速完成事故處理并恢復供電，大幅度提升運維效率，保證供電可靠、穩定，保證生產連續運行，提高效率與良品率，最終實現提質增效。
方案價值
敏銳捕捉、全面預警
1024點/周波高精度采樣，20us異常信息敏銳捕捉，精確呈現供配電異常統動波形，并生成一對一診斷分析報告，深挖設備故障本質，實現智能故障趨勢預判，提前洞悉用電健康狀態，幫助用戶預知風險，預警事故發生。
擾動源定位
基于多種模型融合定位算法，準確判斷引發電壓暫降的擾動發生在監測點上游還是下游，確定電壓智降源的位置，還可以實現系統級擾動源精確定位，對快速處理故障問題、合理的解決擾動事件引發的爭議具有重要的指導價值。
綜合分析
通過將PQ事件統計、容忍度分析、設備運行趨勢分析、概率統計分析、故障波形分析、故障擾動定位在一個界面呈現,通過事件為紐帶，可以交叉索引各功能的分析結果，為用戶呈現多維度的電能質量綜合分析結果。自帶WaveAnalyzer波形分析工具，可通過PQ Vision界面事件或波形窗口跳轉到波形分析界面，提供波形圖分析、諧波分析、向量分析、序分量分析、RMS分析、波形運算等功能，可方便的查看和分析波形文件中模擬量通道波形、功率波形和數字量通道變位情況。
