ORTEC GWL系列高純鍺（HPGe）井型探測器是小樣品低水平計數的理想解決方案。 的離子注入探測器井具有超薄死層（僅0.3 μm厚），因此可提供的有用能量范圍（10 keV至10 MeV）。與其他穿透型鍺晶體孔的井型探測器不同，ORTEC的井型探測器有一個“盲孔”，
;在孔的底部有至少5 mm的鍺活性區（右側圖片）。<這種接近4π的幾何張角提供了的計數效率。大井（直徑1.55厘米，長4.0厘米）可容納各種樣本尺寸。與所有ORTEC的HPGe探測器一樣，HPGe井型探測器可以存儲或反復循環到室溫，而不會降低性能。 GWL系列功能：
- 接近4π幾何張角；小樣品的計數效率高。
- 譜測量從10 keV到10 MeV。
- 有效體積達400毫升。
- 的離子注入盲孔。
- 超大井（1.55 x 4.0厘米）標準。
資料 +
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GWL配置指南
- GWL配置指南（A4）
- 半導體探測器概述
- 半導體探測器的物理學綜述
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可選附件 +
遠程前置放大器選件（-HJ）
此選件讓所有前置放大器和高壓接頭位于屏蔽之外，并將前置放大器和高壓濾波器從Ge晶體的“視線”中移出。對于低本底應用，此選件消除了可能增加屏蔽內部本底的任何可能的前置放大器或高壓濾波器組件。低本底選件（-LB-AWT和-XLB-AWT）
低本底GWL探測器配有無氧（OFHC）銅端蓋，帶有0.02英寸壁厚的低本底高純度鋁井。訂購信息 +
請參閱GWL（井）P型同軸輻射探測器配置指南配置探測器。
