PhaseView光束質量分析儀BeamWave型號參數
型號 | BeamWave500 | BeamWave1000 | BeamWave1500 | BeamWave FIR |
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輸入光束直徑(1/e2) | 3.2mm | 4.8mm(雙CCD) | 6.4mm | 10.88 x 8.16 mm |
光束強度測量模式 | 連續或脈沖,XYZ三軸測量 | |||
波長范圍 | 350 ‐ 1100 nm | 2-16 µ m | ||
有效CCD口徑 | 3.2mm | 4.8mm | 6.4mm | |
CCD像元大小 | 6.45 x 6.45 μm | 17 µ m | ||
M2測量功能 | 連續和脈沖激光 | |||
M2范圍 | 1-50 | |||
M2精度 | ±5% | ±5% | ±5% | |
M2重復性 | 2% | |||
波前測量功能 | 有 | |||
波前測量點數 | 500×500 | 1392×1040 | 1392 X1040 | 640 x 480 |
波前靈敏度,rms | 0.005λ | 0.005λ | 3nm, >0.02λ | |
波前精度,rms | 0.01λ | 0.01λ | 6nm, >0.01λ | 0.01 λ |
波前動態范圍 | 1500λ | 1500λ | 1800λ | 1500 λ |
測量時間 | 實時 | |||
重量 | 0.35 Kg | 2.5 Kg | 1.15 Kg | 0.272 Kg |
尺寸 | 41×55×80 | 87×161×84 mm | 114x72x172 mm | 61×67 ×66 mm |
光學接口 | C-Mount | |||
計算機接口 | USB 2.0,Windows 7,XP,Vista | |||
標配軟件 | GetLase | GetLase GeTWave | GetLase GetWave | GetLase GetWave |
供電 | USB供電,無需電源 | |||
可選項: | 3ND Filter, Beam Splitter Wedges, IR Converter,光束縮束和擴束, Beam Reducer/Expander2X,3X,4X Software Development Kit軟件,GetWave軟件波長從紫外到紅外的特定探測器(其他波長) |
法國PhaseView公司BeamWave光束質量分析儀以別具一格的光束質量M2測試技術而聞名,具有高分辨率、
測量速度快、測量功能全面,無需繁瑣的導軌等優點。它的通用性強,連續和脈沖光束都能測量且脈沖測量自動觸發,功能全面,十分適合用于激光分析、眼科儀器、科研級光學精密儀器的表面和波前測量等應用。
普通的光束質量分析儀通常使用Shack-Hartmann探測器對波前能量進行測量取樣,其具有測量速度慢且分辨率低,測量M2時移動繁瑣等缺點。而法國BeamWave系列光束質量分析儀很好的克服了這些缺點,其采用了PhaseView公司的波前傳感技術,CCD探測器和波前探測器只需一次成像就能瞬間采樣,得到光束質量(M2)的數據,整個過程無需移動任何導軌部件,且測量速度快、分辨率高。BeamWave革命性的舍去了傳統光束質量分析儀的復雜系統,沒有笨重的移動部件和多余的附件 ,單一設備即可實現分析測量M2因子、光束形貌參數、光斑傳播參數等所有的激光束參數。
BeamWave系列光束質量分析儀采用的波前傳感技術,它的原理是在CCD探測過程中,入射激光光斑會被分成兩束激光,一快一慢分別先后的到達兩個CCD探測器陣面上,得到兩個光束圖像。通過對比分析這兩個圖像的波前能量強度分布和波前相位分布可以分析的出該光束的M2值、發散角、光束位置和其它傳播參數。
PhaseView光束質量分析儀BeamWaveBeamWave優點:
- 連續和脈沖光束都能測量,脈沖測量自動觸發
- 只需一臺BeamWave即可測量全部的光束參數 ,且價格相對優惠, 結構簡單無需維護成本
- 高分辨率光強和波前同步測量
- 不需要復雜的移動導軌部件,瞬時單點M2測量,
- 1. 光束形貌參數:光束發散角,三維能量分布,光斑位置,腰斑大小,
- 2. 光束傳播參數:波前曲率半徑,波前能量、相位分布,銳利長度,腰斑大小和位置,等等
- 3. M2因子
BeamWave 傳感器在一體化設備中同時提供強度和波前測量。這些傳感器不是使用微透鏡陣列進行波前采樣,而是基于 數字波前技術 ® ,因此波前測量點的數量僅受相機分辨率的限制,可提供高空間分辨率波前,
這些傳感器通常用于同步激光束分析和光束傳播分析或高分辨率波前測量,以進行光學元件表征。
BeamWave傳感器附帶GetLase® GUI軟件,用于即時診斷所有激光束參數,GetWave ® GUI軟件帶有全面的波前分析工具,包括Zernike,MTF和PSF。
成功用于以下應用:
- 實時激光束監控
- 即時激光束診斷
- 激光二極管、光纖激光器、半導體激光器
- 固態激光器、電信激光器組件
- 光學表征:微透鏡和眼科鏡片