MicroTEQ-S1顯微光譜測量系統，集成熒光、拉曼和反射光譜測量功能。通過把
光譜模塊集成到顯微鏡上，實現顯微熒光、拉曼和其他光譜信息的測量。系統由
光譜儀、激光器、光源、顯微鏡等部分構成，自由靈活，幫助用戶快速對樣品微
觀結構，微觀光譜信息的測試和分析；此外系統可以加裝二維電控掃描臺，通過
軟件控制，實現光譜二維掃面測量功能。
應用范圍
- 微流控；
- 植物葉片研究；
- 激光材料評價；
- 生物和細胞測試；
- 光子晶體測試；
- 珠寶、古籍檢測;
- 納米材料分析；
* 圖片僅供參考
其他模式
- 熒光測量：顯微光譜測量模塊內部集成了熒光測試光路，通過SMA905光纖
接口與熒光激光器和熒光光譜儀連接。其中連接激光器的SMA905接頭，可
以改裝成為自由空間光作為輸入光源，從而得到更強的激發功率或更好的光
斑質量。模塊中帶濾光片插槽，可以放置適配不同激發波長的激發濾光片和
發射濾光片，實現不同激發波長的顯微熒光測量。
- 顏色和反射測量：使用光纖把鎢燈光源和顯微光譜測量模塊連接起來，共用
熒光光路，即可實現顯微反射光譜測量和顯微顏色測量功能。
二維Mapping：選配二維電動平臺，使用操作軟件設置面掃描采樣， 獲取一
定范圍內的逐點掃描光譜數據，可用于表征材料表面微觀結構和光譜成像。同
時測試結果還可以通過圖像繪制的方式呈現出來。
