N5245B PNA-X矢量網絡分析儀是一種微波測試儀器,主要用于測量放大器、混頻器和變頻器等有源器件的特性。其基本原理基于矢量網絡分析技術,具體包括以下幾個關鍵方面:
1. 信號源與激勵:N5245B內置兩個信號源,可以生成滿足測試需求的射頻信號。這些信號被用來激勵被測器件(DUT),以便測量其性能參數。
2. 信號分離與測量:通過定向耦合器和功分器,N5245B能夠將輸入信號分離為參考信號和測試信號。參考信號用于校準,測試信號則被送入被測器件。
3. 接收與分析:N5245B配備多個接收機,用于捕獲被測器件的輸出信號和反射信號。這些信號的幅度和相位信息被用來計算S參數,這是描述器件傳輸和反射特性的重要參數。
4. S參數測量:S參數(散射參數)是矢量網絡分析的核心,它們描述了射頻器件在不同頻率下的傳輸和反射特性。N5245B通過測量S11(反射系數)、S21(傳輸系數)等參數,全面表征器件性能。
5. 誤差校正:為了提高測量精度,N5245B采用矢量誤差校正技術,消除測試系統中的固有誤差,如電纜、連接器的相位和幅度誤差。
6. 線性和非線性測量:除了基本的線性參數,N5245B還支持非線性測量,如諧波失真、交調失真等,通過內部信號源和脈沖調制器實現。
7. 多功能應用:N5245B支持同軸、固定和晶圓環境中的測量,配備靈活的開關和RF接入點,適用于多種測試配置。
8. 動態范圍與精度:N5245B具有寬動態范圍(124 dB)和高輸出功率(13 dBm),確保了從低到高功率范圍內的精確測量。
9. 用戶界面與軟件:多點觸控屏和直觀的用戶界面簡化了操作,測量應用軟件提供了豐富的功能,幫助用戶快速進行復雜測量。
通過這些核心功能,N5245B PNA-X矢量網絡分析儀能夠提供全面的射頻器件特性分析,支持研發和生產中的高精度測量需求。
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