N5235B網絡分析儀是Keysight Technologies(原安捷倫科技)生產的一款高性能矢量網絡分析儀,專門用于對無源元器件和簡單的有源器件進行基本分析。它適用于對成本敏感的應用場合,能夠在高達50 GHz的頻率范圍內精確測量S參數,具有出色的性價比,特別適合微波器件制造測試。該分析儀可以配置為經濟型解決方案,用于信號完整性測量和材料表征。它配備了多點觸控屏和直觀的用戶界面,使得元器件特性分析更加高效
N5235B的技術規格包括:
-頻率范圍:可選300 kHz至6 GHz, 10 MHz至20 GHz, 10 MHz至40 GHz, 或10 MHz至50 GHz。
-動態范圍:系統動態范圍達122 dB。
-測量速度:每點測量時間快可達4至9微秒。
- 系統和接收機的動態范圍高達110 dB。
- 提供2端口和4端口配--置選項,適應不同測試需求。
-內置雙端口源,支持122 dB的動態范圍。
-測量點數可達32,001點,通道數為32個。
-精度高,適合精密測量,如反射系數(S11)、傳輸系數(S21)等。
注意事項
在使用N5235B VNA測量反射系數時,還需要注意以下幾點:
1. 合理選擇校準方法。不同的被測設備對校準方法的要求會有所不同,用戶需要根據具體情況選擇最合適的校準方法。
2. 小心處理測量接口。測量接口是VNA和被測設備之間的關鍵連接點,需要注意保持清潔、避免損壞。接口的不良會顯著影響測量精度。
3. 注意測量環境條件。溫度、濕度、電磁干擾等環境因素都會對VNA的測量結果產生影響,需要盡量控制測量環境。
4. 合理設置測量參數。頻率范圍、掃描點數、中頻帶寬等參數的選擇會影響測量速度、動態范圍和分辨率,用戶需要權衡取舍。
是德科技N5235B矢量網絡分析儀是一款性能出色的高頻測量設備,其測量反射系數的功能在射頻和微波領域廣泛應用。通過合理的連接、校準、測量和數據分析,用戶可以充分發揮N5235B的測量能力,獲得準確可靠的反射系數測試結果,為系統設計和優化提供重要依據。
N5235B網絡分析儀以其優秀的性價比、寬廣的頻率覆蓋范圍和強大的測量能力,成為許多研發和生產環境中的工具