- O系列采用毛細管光學結構，擁有精準的測試性能，同時能實現極小的X射線光斑尺寸。該系列用毛細管結構取代了安裝在博曼標準機型中的準直器組件。由于多導毛細管可以傳遞數百倍的能量信號,可以有效提高到達樣品表面的入射X射線強度。O系列配備高分辨率的SDD探測器，在短時間內捕捉并處理大量數據，在短時間內滿足極小斑點的測量的同時獲取精準的測量結果（準確性和重復性）。
- 該系列采用80μm毛細管光學結構，同時配備可處理更高計數速率的高分辨率SDD硅漂移探測器。O系列的相機具有更大的放大倍數，擁有45x視頻放大和5x數碼變焦。一個可編程的XY樣品臺也是標準配置。O系列的焦距非常接近，所以使用時樣品必須平整。
博曼O系列可滿足以下類型用戶的需求：
- 極小的樣品，如半導體，連接器或PCB
- 需要測試多個樣品的多個位置
- 需要測量非常薄的涂層（<100nm）
- 需要在短時間內完成測量（1-5秒）- 符合IPC-4552A
博曼O系列產品參數：
類別 參數
元素測量范圍： 13號鋁元素到92號鈾元素
X射線管： 50 W鉬鈀射線管 80um毛細管光學結構
探測器： 135eV及以上分辨率的硅漂移探測器
分析層數及元素數： 5層，每層可分析10種元素，成分分析最多可分析25種元素
濾波器： 2位置一次濾波器
焦距： 固定焦距（0.1"）
數字脈沖器： 4096 多通道數字處理器，自動死時間和逃逸峰校正
計算機： 英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 專業版, 64位
相機： 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率，250X雙攝像頭或45X單攝像頭
電源： 150W，100-240V，頻率范圍為47Hz至63Hz
重量： 53kg
可編程XY平臺：
平臺尺寸：15"x 13"| 行程：6"x 5"
樣品倉尺寸： 高度：140mm（5.5"），寬度：310mm（12"），深度：340mm（13"）
外形尺寸： 高度：450mm（18"），寬度：450mm（18"），深度：600mm（24"）
關于美國博曼：
美國博曼（Bowman）是高精度臺式鍍層測厚儀供應商，擁有近40年的行業經驗。博曼XRF系統搭載擁有自主知識產權的鍍層檢測技術，可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統可同時測量包含基材在內的五層元素，其中任何兩層元素可以是合金。同時，博曼XRF系統也可以測量高熵合金（HEAs）
