設(shè)備概述：
低溫沖擊試驗裝置符合GB/T2099.1-2021標準中第第24.5條款及30.5條款要求、IEC60884-1：2013試驗標準要求；單組式適用于對插頭、插座、開關(guān)、等進行低溫沖擊試驗。
低溫沖擊試驗裝置主要技術(shù)參數(shù)：
本低溫沖擊設(shè)備應與低溫箱配套使用，設(shè)備應放在約40mm厚的海綿橡皮墊上，試驗前和試驗期間均應置于合適的低溫箱內(nèi)
跌落沖擊高度：10～250mm可調(diào)
低溫沖擊試樣類型、落錘質(zhì)量及跌落高度:
1)插座盒及類似電器外殼 GB/T2099.1-2021第24.5條款，滿足規(guī)格要求，落錘質(zhì)量:1000±2g，跌落沖擊高度:100mm；
2）帶絕緣護套的插銷 GB/T2099.1-2021第30.5條款，滿足規(guī)格要求落錘質(zhì)量:1000±1g，跌落沖擊高度:100mm。
符合GB/T2099.1-2021標準中第第24.5條款及30.5條款要求、IEC60884-1：2013試驗標準要求。
低溫沖擊試驗裝置符合GB/T2099.1-2021標準中第第24.5條款及30.5條款要求、IEC60884-1：2013試驗標準要求；單組式適用于對插頭、插座、開關(guān)、等進行低溫沖擊試驗。
低溫沖擊試驗裝置主要技術(shù)參數(shù)：
低溫沖擊試驗裝置符合GB/T2099.1-2021標準中第第24.5條款及30.5條款要求、IEC60884-1：2013試驗標準要求；單組式適用于對插頭、插座、開關(guān)、等進行低溫沖擊試驗。
低溫沖擊試驗裝置主要技術(shù)參數(shù)：
