CCD光譜儀Exemplar Plus LS采用低雜散非交叉光路設計和高靈敏TE致冷背照式CCD陣列檢測器，是理想的高性能光譜測量產品。得益于寬動態范圍和低雜散光，使其更加適合透過與吸光度檢測。高靈敏度和優異的信噪比使其更加適合弱光信號的測量，是熒光光譜和拉曼光譜應用的選擇。
CCD光譜儀Exemplar Plus LS特點：
高紫外可見近紅外光譜響應
TE致冷，zui低可致冷至比室溫低25℃
峰值量子效率大于90%，200nm處量子效率大于60%
超低雜散光，<0.02% @ 400 nm
光譜范圍180-1100nm，zui小光譜分辨率0.1nm
信噪比可至4800:1
應用：
吸收/透射光譜分析
熒光光譜/拉曼光譜應用
在線過程監控
生物醫學/農業食品
大氣水質分析
弱光信號光譜檢測
光譜范圍 | 180-1100nm |
光譜分辨率 | 0.1nm |
雜散光 | <0.02% @ 400 nm |
信噪比 | 4800:1 |
動態范圍 | 50000:1 |
檢測器類型 | 2048元背照式CCD檢測器@14um*900um |
致冷溫度 | 低于環境溫度25℃(默認0℃) |
光譜儀F# | 3.0 |
光譜儀光路 | 全息光路 |
電源輸入 | 5V DC@3.0 A |
數字分辨率 | 16-bit |
讀出速度 | >400KHz |
數據傳輸速度 | 600MB/s(Max) |
zui小積分時間/調節步長 | 6ms/1us |
Aux Port | 外觸發 |
觸發延遲 | 95ns+/-20ns |
操作溫度 | 5-35℃ |
相對濕度 | 85%，無冷凝 |
重量 | ~1.2kg |
尺寸 | 178*108*67mm |
計算機接口 | USB 3.0/2.0 |
操作系統 | Win XP , Vista(32-bit) , Win 7 , Win 8 |
