BIPV太陽能組件IV測試儀
BIPV-3624
u 技術(shù)參數(shù)達到AAA標(biāo)準(zhǔn)
u 光譜范圍：300~1200nm
u 定制化服務(wù)：光譜、輻照度范圍可定制
u 可選配電子負(fù)載掃描方向
u 測試幅面：2400mm*3600mm
產(chǎn)品介紹
BIPV-3624系列BIPV太陽能組件IV測試儀是用于BIPV組件電性能測試的專用設(shè)備。其測試幅面達2400mm*3600mm，滿足IEC60904-9 2020標(biāo)準(zhǔn)：不均勻度、光譜匹配度、光強穩(wěn)定度三大核心性能指標(biāo)均優(yōu)于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。光譜范圍滿足300-1200nm范圍，滿足各種類型電池的光譜測試。太陽電池組件采用四線連接，以及高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保了太陽電池電流測量的準(zhǔn)確性。紅外無接觸式測溫，準(zhǔn)確測出組件溫度，確保了溫度修正的準(zhǔn)確性。設(shè)備可增加自動導(dǎo)軌用于流水線，滿足各類產(chǎn)線配線要求。
測試對象：適用于晶體硅太陽能電池組件（PERC、N型、TOPcon以及HJT等）、薄膜電池組件的電性能參數(shù)的測試和結(jié)果記錄及導(dǎo)出。
性能特點
u AAA標(biāo)準(zhǔn)：滿足IEC60904-9 2020標(biāo)準(zhǔn)
u 300-1200nm光譜：滿足各類電池測試要求
u 電子負(fù)載：掃描方向支持Isc→Voc和Voc→Isc兩種模式
u 測量對象：PERC、N型、HJT、IBC、TOPcon、CIGS、普通晶硅等技術(shù)組件
u 可測量參數(shù)：I-V曲線，短路電流，開路電壓，峰值功率，峰值功率點電壓、電流，定電壓點電流，填充因子，轉(zhuǎn)換效率，串聯(lián)電阻，并聯(lián)電阻
技術(shù)指標(biāo)
設(shè)備型號 | BIPV-3624 |
生產(chǎn)指標(biāo) | |
測試間隔 | ＜25s（100ms） ＜35s（150ms） |
max可測面積 | 3600mm×2400mm |
光源方向 | 下打光光源 |
上料方式 | 手動（選配手動滑軌上料模組） |
測量指標(biāo) | |
太陽模擬器光源等級 | AAA |
太陽模擬器等級標(biāo)準(zhǔn) | IEC 60904-9 2020 |
校準(zhǔn)方式 | 標(biāo)準(zhǔn)組件單次自動校準(zhǔn)光強 |
光譜匹配 | 0.75-1.25 (A) |
幅照度不穩(wěn)定性 | STI＜0.5% ,LTI＜2%(A) |
幅照度不均勻性 | ＜2% (A) |
光譜范圍 | 300-1200nm |
閃光時間 | 10-150ms |
輻照度范圍 | 1000W/m2 |
