美國賽默飛Thermo Scientific ARL QUANT'X X射線光譜儀是一種非常強(qiáng)大的常用技術(shù)，可以對各類材料中的主要、次要和痕量組分進(jìn)行快速無損的定量分析，包括固體、粉末、水溶液或有機(jī)溶液和分層結(jié)構(gòu)。它在各個(gè)行業(yè)具有多種應(yīng)用：
制藥
環(huán)境監(jiān)測
金屬
水泥
電子
玻璃
聚合物
陶瓷
耐火材料
地球化學(xué)
石油
化工
礦業(yè)
賽默飛世爾科技公司提供全面的 X 射線熒光光譜儀和 X 射線衍射儀器（EDXRF、WDXRF、XRD、EDS、ESCA），涵蓋從普通到高度專業(yè)化研究應(yīng)用的 X 射線光譜測定的所有方面。從多功能 ARL QUANT'X 到超精密 ARL 9900 X 射線工作臺，每臺儀器都將的技術(shù)與成熟的高質(zhì)量、耐用性和分析性能結(jié)合。
新型 ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀更高效、更易于操作、擁有更多的功能，為各個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域的制造商和研究人員提供的儀器，幫助解決挑戰(zhàn)性的分析任務(wù)。
分析技術(shù)優(yōu)勢如下：
快速分析氟（F）到鈾（U）之間的元素
元素的濃度范圍從 < 1 ppm 到 100%
多元素同時(shí)測量時(shí)間10-60秒
可選多種進(jìn)樣器
使用 CCD 相機(jī)進(jìn)行樣品成像
可調(diào)的X射線光斑直徑1- 15 mm，以便適應(yīng)不同樣品大小
高性能電制冷硅漂移探測器（SDD）
多功能 XRF 應(yīng)用軟件
薄膜厚度測量和鍍層分析
UniQuant™ 技術(shù)，的無標(biāo)樣多元素同時(shí)分析技術(shù)
多語言支持
可選 TRACEcom，能夠輕松與 LIMS 交互
優(yōu)異的機(jī)械耐久性，可保證長時(shí)間運(yùn)行
設(shè)計(jì)緊湊，可以輕松移動(dòng)
低噪音，得益于得益于智能控溫風(fēng)扇
全面的自定義和現(xiàn)場應(yīng)用方法建立功能
易于安裝，更易于維護(hù)
能量色散X射線熒光光譜儀應(yīng)用：
大氣顆粒物分析
金屬、貴金屬、合金
調(diào)查取證
RoHS 和 WEEE 篩選石油
各種油品、過濾介質(zhì)、添加劑和發(fā)動(dòng)機(jī)磨損金屬分析
食品安全
水泥、陶瓷、化肥
原料和替代燃料
冶金、礦渣及礦石
考古和文物修復(fù)、寶石學(xué)、金屬飾品
聚合物、催化劑、半導(dǎo)體和磁性介質(zhì)材料
工業(yè)鍍層及晶圓材料鍍層測量。
