SF6分解物多組份分析系統

產品型號：SF6-FTIR-401
產地：德國

1.SF6特性：
　　六氟化硫氣體（SF6）由法國兩位化學家 Moissan 和 Lebeau 于 1900 年合成。大約從 60年代起， SF6氣體作為優異的絕緣和滅弧介質成功地應用于高壓開關及其設備。今天，在高壓、超高壓及特高壓領域，SF6氣體幾乎成為斷路器和 GIS 的絕緣和滅弧介質。
 

2.SF6分解物的產生：
　　SF6產品不純，出廠時含高毒性的低氟化硫、氟化氫等有毒氣體。
　　局部放電下的產物，例如：
　　1） 2SF6  +  O2  →2SOF2  +  8F（氟化亞硫酰）
　　2） 2SF6  +  O2  →2SOF4  +  4F（四氟化硫酰）
　　3） SF6  →SF4  +  2F（四氟化硫）
　　4） SF6  →S  +  6F（硫）
　　5） 2SOF4  +  O2  →2SO2F2  +  4F（氟化硫酰）
　　6）  SF4  +  H2O  →SOF2  +  2HF（氫氟酸）
　　7）  SOF4  +  H2O  →SO2F2  +  2HF（氫氟酸）
　　8） SOF2  +  H2O　→  SO2  +  2HF（二氧化硫）

　　局部放電產生的SF6分解物會加速絕緣老化并腐蝕金屬表面，隨著電氣設備絕緣劣化的加劇，將直接導致局部放電的發生，甚至擊穿，縮短電氣設備的使用壽命，嚴重影響電氣設備的安全運行

絕緣材料在SF6分解物腐蝕前后的照片

絕緣材料在SF6分解物腐蝕前后耐壓強度對照表

3. 局放檢測技術-化學方法應用于局部放電檢測

　　SF6分解物法用于SF6充氣式電力設備的故障診斷。目前國內外電力系統已廣泛開展了電力設備SF6分解物種類和含量的檢測，通過該技術已經發現一些電氣故障，特別是在GIS局部放電方面的應用。但基于檢測技術的局限性，目前基于化學傳感器技術僅能檢測SO2，H2S，HF等幾種基本物質含量，有相當的局限性。    例如：SOF2;SF4;SOF4;SO2F2;S2F10;CO;COS;SiF4等物質無法檢測。但SOF4分解物存在與否是與設備的局部放電有直接關系。
 

4. FTIR紅外光譜技術：
　　從20世紀70年代到現在的30多年中，傅里葉變換紅外光譜技術(FTIR)發展非常迅速，隨著傅里葉變換紅外光譜技術的不斷發展，紅外光譜儀也在不斷地發展，不斷地更新換代。新的、的紅外光譜儀附件的出現，使紅外光譜儀附件的功能不斷地擴大，性能不斷地提高，使紅外光譜技術得到更加廣泛的應用。
　　紅外吸收光譜分析方法是鑒別化合物和確定物質分子結構的常用手段之一。對于單一組分或者混合物中各組分也可以進行定量分析，尤其對于一些較難分離并在紫外、可見區找不到明顯特征峰的樣品可以方便快捷地完成定性定量分析。
　　紅外光譜法研究的是分子中原子的相對振動，也可歸結為化學鍵的振動。不同的化學鍵或官能團，其振動能級從基態躍遷到激發態所需的能量不同，因此要吸收不同的紅外光。物質吸收不同的紅外光，將在不同波長出現吸收峰，就形成了紅外光譜。中紅外光譜的測量區域位于4000cm-1~400 cm-1，也就是2.5mm~25mm

★ 在同樣的測量時間內，傅里葉變換紅外光譜儀的信噪比和靈敏度明顯提高。
★ 掃描速度快，傅里葉變換紅外光譜儀可以在1秒內測量多張紅外譜圖。
★ 光通量大，可以檢測透射比較低的樣品，便于利用各種附件，如漫反射、鏡面反射、衰減全反射等；另外能檢測不同的樣品形態，如氣體、固體、液體、薄膜和金屬鍍層等。
★ 分辨率高，便于觀察氣態分子的精細結構。
★ 測定光譜范圍寬，只要相應地改變光源、分束器和檢測器的配置，就可以得到整個紅外區的光譜。
★ 波數精度高，由于采用單色性的He-Ne激光來控制和測量干涉圖并取樣，使光譜計算得到很高的波數精度。

5.  紅外光譜技術用于SF6分解物多組份分析：
　　國外SF6氣體分解物的研究已開展多年，并取得了相當的成果。德國化學博士Dr.Kurte先生和其的科研小組歷經十多年的探索和研究，結合紅外光譜技術和SF6分解物組分方面的研究成果，研發成功基于紅外光譜技術的SF6分解物多組分分析系統，并配備專用數據庫系統。其SF6分解物分析設備已廣泛應用于世界電力工程，對電力設備故障的診斷起到了重要作用。具體檢測數據和檢限見下表：

SF6分解物分析軟件

FTIR-SF6 分解物分析系統