多通道相參信號源在要求高信號質量和各通道穩定相參的應用領域擁有的表現。高穩定OCXO參考提供了的頻率精度和頻率穩定性。此外,該信號源具備高頻參考輸入和輸出端口,可以保證多個輸出通道及多臺儀器間的相位嚴格相參并保持長時間穩定。
同時,多通道相參信號源具備LAN控制接口,可保證便捷高效的程控。通過任何主系統均可快速實現儀器的遙控,同時提供的應用程序接口(API)或編程示例使得儀器程控十分簡便。
SLFS20T三通道信號源技術指標
變頻模塊是微波收發系統的重要組成部分,這類模塊和其他產品一樣也都需要經歷設計、裝配、測試等環節,其中測試是判斷模塊性能、檢驗模塊指標最準確也是最關鍵的環節。
需要測試的指標根據項目要求的不同也會存在差異,但是測試任務大致都會包含輸出頻率范圍、功率范圍、功率平坦度、雜散抑制、諧波抑制、本振泄露、鏡像抑制和電壓駐波比等指標。測試的復雜程度和對工程師整體素質的要求都是比較高的,從這也能窺見微波領域工程師工作的艱辛。
變頻模塊多為一次或二次變頻,當然根據項目需要,設計不同也會有三次甚至更多次的變頻情況,但是無論變頻次數有何不同,測試任務都是大同小異的。其中見的應當是兩次變頻模塊,下面我們以接收機中的下變頻模塊測試為例,談一談在變頻模塊測試中經常遇到的困難和需要注意的地方。
兩次變頻的原理圖如圖1所示,輸入的射頻的信號——RF,先和一本振——LO1混頻,混頻器后出的則是我們想要的中頻信號——IF,然后中頻信號IF再和二本振LO2進行二次混頻得到最終信號接入ADC中。在整個測試過程中,我們總結了幾個工程師比較關注的點:
01
讓人頭疼的三臺信號源
從圖1中我們可以看到,測試過程中我們需要用到三臺信號源,一臺給輸入信號RF,兩臺當做本振LO1和LO2。在平時的測試過程中,這樣三臺信號源的使用也是一件讓人非常頭疼的事情,我的一個測試需要占用實驗室三臺微波信號源,資源緊張,并且每臺信號源還需要滿足頻率等指標的使用需求,所以找到滿足要求的三臺信號源也是一件充滿挑戰的事情。等到三臺信號源全部到位,又要面對的是很大一個攤位的占用,三臺信號源壘到一起,再加上頻譜儀、功率計、電源等其它其他的儀器設備,既不方便操作又顯得雜亂不堪。
02
本振雜散抑制的要求
在某些變頻模塊的測試中,雜散抑制也是一個非常重要的指標,所以在實際測試中,對于本振的雜散抑制指標是有很嚴格的要求的。如果變頻模塊的雜散指標是≤-60dBc,那么對本振信號的要求至少是高出一個量級,≤-70dBc的要求是合理的。如果不能保證如此,那么在測試中出現異常雜散就會非常麻煩,影響被測件雜散抑制測試結果的可靠性與準確性。
03
RF和LO1的頻率同時變化
這里我們仍然以下變頻為例,變頻模塊的設計與裝配完成后緊接著就是測試工作,小批量的測試主要還是以設計工程師手動測試為主。二次變頻模塊的測試,由于要保證次混頻后的中頻信號IF保持不變,所以需要輸入信號和一本振的頻率變化值保持一致,是能夠同時變化,這個要求在使用多臺信號源時就很難做到;并且讓工程師感到麻煩的還有每次計算調節兩臺信號源的頻率值。
tips 1 以一頂仨,節省測試臺空間
中星聯華科技(Sinolink Technologies)三通道微波信號源,三個輸出通道互相獨立可控,一臺頂三臺,標準2U機箱集成度更高,再也不用借三臺信號源擔心測試臺雜亂了;
目前三個通道頻率可以同時到達40GHz,覆蓋Ka及以下所有波段,在保證頻率能夠滿足需求的情況下擁有的信號質量,雜散抑制指標20GHz以下<-70dBc,20GHz至40GHz<-60dBc,實測指標更是遠遠好于此指標;
tips2 多通道頻率、功率聯動設計,提高測試效率
多通道頻率、功率的聯動設計,更是為工程師的測試效率帶來突破性提高,選擇任意多個通道,設定好頻率、功率步進值,只需要一鍵就可以控制多個信號同時變化。
除此之外多通道信號源還可以支持程控使用,用戶可以利用上位機通過網絡接口向信號源發送程控指令以完成一系列的參數設置。當信號源與上述測試流程中的各種設備接入同一個測試系統中,那么上述變頻模塊的測試可以通過自動測試系統來完成,極大的簡化了測試流程,提高測試效率。
tips3 高通道隔離度,無需擔憂通道間影響
看到這么多棘手的問題只需要一臺信號源就解決了,很多工程師在感到欣慰的同時,可能也會有些疑慮,通道間隔離度如何?畢竟之前用多臺信號源測試是不需要考慮這個問題的。當然這個問題我們已經做出了很好的解決——通道間隔離度≥80dB。您不需要擔心通道間隔離度的問題。
上述三通道微波信號源是中星聯華近年來結合客戶需求和自身十年的技術優勢推出的優質產品,自從推廣以來,已經引起了許多客戶的興趣,并且開始試用,如果您有對應需求,歡迎我們的
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