譜區(qū)擴(kuò)展
VERTEX 80/80v可通過配備各種光學(xué)選件，來覆蓋從遠(yuǎn)紅外或太赫茲開始，經(jīng)中紅外和近紅外、可見光到紫外光的光譜區(qū)域。其預(yù)準(zhǔn)直光學(xué)元件以及主動準(zhǔn)直的UltraScan™干涉儀，使切換和維護(hù)變得十分簡單。
BMS-c： 布魯克為VERTEX 80v真空光譜儀提供高精度分束器切換選件BMS-c。
您可以在真空條件下，通過遠(yuǎn)程控制自動更換多達(dá)4種不同類型的分束器。現(xiàn)在，您無需泄光譜儀真空打開光學(xué)臺來手動切換分束器，就能測量從紫外/可見光到遠(yuǎn)紅外/太赫茲的完整光譜范圍。
全新附件： 布魯克為VERTEX 80/80v FTIR 系列光譜儀提供了全新的新型寬帶遠(yuǎn)紅外/太赫茲分束器，拓展了分束器的選擇范圍。特別是在半導(dǎo)體和其它無機(jī)材料研究與開發(fā)應(yīng)用中，由于全新的遠(yuǎn)紅外固態(tài)分束器在單次測量中即可覆蓋從900 cm-1 到5 cm-1左右的光譜范圍，并且能夠?qū)⒅屑t外與遠(yuǎn)紅外/太赫茲波譜范圍連接起來，因此它還能帶來更多價值。
光學(xué)分辨率
VERTEX 80 和 VERTEX 80v 標(biāo)準(zhǔn)配置提供優(yōu)于 0.2cm-1的標(biāo)點光譜分辨率，這足以進(jìn)行大多數(shù)環(huán)境壓力氣相研究和室溫樣品測量。對于的低溫工作，例如在晶體半導(dǎo)體材料或低壓力下進(jìn)行氣相測量，提供優(yōu)于 0.06cm-1 的 PEAK 分辨率。這是使用商用臺式 FT-IR 光譜儀實現(xiàn)的光譜分辨率。可見光譜范圍內(nèi)的高分辨率光譜顯示分辨率（波數(shù) + 除以光譜分辨率 ∆ +）更好的 300，000：1。
多功能
創(chuàng)新的光學(xué)設(shè)計使靈活性和拓展能力的研究級真空FTIR光譜儀成為可能。借助真空光學(xué)臺，該系統(tǒng)在中紅外、近紅外和遠(yuǎn)紅外區(qū)域具有的靈敏度，而不必?fù)?dān)心那些非常弱的光譜特征因空氣中的水蒸氣吸收而被掩蓋。VERTEX 80v 真空光譜儀能為您帶來的成果，例如在低至 10-3 單層的納米科學(xué)研究領(lǐng)域。不僅如此，它的靈活性幾乎不受限制。光學(xué)臺的右側(cè)、前側(cè)和左側(cè)布有5個光束輸出端口，右側(cè)和后側(cè)有兩個光束輸入端口。因此，它可以同時進(jìn)行連接：例如，后側(cè)輸入端口的同步輻射光源、右側(cè)輸出口的 PMA50 偏振調(diào)制附件、右前側(cè)端口的光纖耦合模塊、左前側(cè)的輻射熱測量計探測器以及左側(cè)輸出端口的 HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡。
VERTEX 80系列是要求苛刻的研究與開發(fā)應(yīng)用的理想儀器。
所用技術(shù)受以下一項或多項保護(hù)：US 7034944
VERTEX 80和VERTEX 80v光譜儀是VERTEX系列的研究級儀器。其創(chuàng)新的光學(xué)設(shè)計使得極為強大的臺式吹掃和真空光譜儀成為可能。它們能夠提供從紫外/可見光（50000 cm-1） 到遠(yuǎn)紅外/太赫茲（5 cm-1）的廣泛光譜范圍、的光譜和時間分辨率以及的靈活性。多功能VERTEX 80/80v 系統(tǒng)能夠通過其的技術(shù)，為所有研究應(yīng)用提供的解決方案。
研究與開發(fā)
用于幅度/相位調(diào)制光譜的連續(xù)和步進(jìn)掃描技術(shù)
用于高時間分辨率實驗的快速、交叉和步進(jìn)掃描技術(shù)（步進(jìn)掃描 / 快速掃描 / 交叉掃描時間分辨光譜）
對周期性有序微觀材料（即超材料）進(jìn)行表征
用于氣體分析分辨率優(yōu)于0.06 cm-1的高分辨率光譜
用于真空紅外光束裝置的系統(tǒng)化
酶催化實驗的停流方法
外接超高真空測量腔室
用于電極表面和電解質(zhì)原位研究的FTIR 光譜電化學(xué)
制藥
測定分子的構(gòu)（VCD）
通過熱分析對藥物產(chǎn)品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量進(jìn)行表征 (TGA-FTIR)
遠(yuǎn)紅外譜區(qū)區(qū)分活性藥物成分多晶型
聚合物與化學(xué)
遠(yuǎn)紅外譜區(qū)識別聚合物復(fù)合材料中的無機(jī)填料
聚合物動態(tài)和流變學(xué)研究
測定揮發(fā)性化合物及表征熱分解過程 (TGA-FTIR)
反應(yīng)監(jiān)測和反應(yīng)控制 （中紅外光纖探頭）
識別無機(jī)礦物質(zhì)和顏料
表面分析
薄膜和單分子層檢測與表征
結(jié)合偏振調(diào)制進(jìn)行表面分析 (PM-IRRAS)
材料科學(xué)
光學(xué)和高反射材料（光窗、反射鏡）的表征
通過光聲光譜學(xué)（PAS）研究深色物質(zhì)和深度剖析
材料的發(fā)射行為表征
半導(dǎo)體
硅晶圓中氧和碳含量的測定
淺能級雜質(zhì)的低溫透射和光致發(fā)光（PL）測量進(jìn)行質(zhì)量控制
外接附件、光源和檢測器
VERTEX 80/80v光譜儀配備了5個光束出口和兩個光束入口，可連接外部激光器和同步輻射光源。此外，借助外部測量附件、光源和檢測器，您可輕松升級光譜儀的光學(xué)系統(tǒng)。包括如下內(nèi)容：
用于VCD和PM-IRRAS的PMA 50偏振調(diào)制附件
PL II 光致發(fā)光模塊
RAM II FT-拉曼模塊和RamanScope III FT-拉曼顯微鏡
TGA-FT-IR 聯(lián)用
HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡
HYPERION 3000 FTIR 成像系統(tǒng)
HTS-XT 高通量篩選eXTension
IMAC 焦平面陣列宏觀成像附件
外部樣品室XSA（真空或吹掃）
外部真空密閉的超高真空腔室(UHV)
真空PL/PT/PR測量單元
低溫液氦或無低溫液體恒溫器
帶中紅外或近紅外光纖探頭的光纖耦合單元（用于固體和液體）
大型積分球
自動進(jìn)樣器
