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HAST偏壓老化測試 試驗箱
HAST老化試驗箱 ，應(yīng)用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗。通過模擬高溫高濕環(huán)境，加速產(chǎn)品老化過程，以評估產(chǎn)品的可靠性和耐久性。
HAST偏壓老化測試 試驗箱
也稱為高加速溫濕度應(yīng)力測試機（Highly Accelerated Stress Test），是一種用于模擬差環(huán)境條件下評估產(chǎn)品可靠性和壽命的重要測試設(shè)備。
原理：
HAST試驗是在高溫高濕的環(huán)境下對電子元件進行加速老化測試。通過在受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定特定的溫濕度條件，模擬產(chǎn)品在極低環(huán)境下的性能表現(xiàn)。HAST試驗?zāi)軌蚣铀倮匣^程，如遷移、腐蝕、絕緣劣化和材料老化等，從而縮短產(chǎn)品可靠性評估的測試周期，節(jié)約時間和成本。
HAST試驗主要分為高加速壽命試驗（HALT）和高加速應(yīng)力篩選（HASS）。HALT屬于破壞性試驗，主要使用在器件的設(shè)計環(huán)節(jié)，通過逐步升高器件的試驗應(yīng)力，確定器件的工作裕度值，從而得出器件對環(huán)境的耐受能力，改進設(shè)計。而HASS則是通過人為地對器件施加各種遠超過器件設(shè)計規(guī)范規(guī)定的敏感應(yīng)力組合，快速地將器件內(nèi)部缺陷或薄弱環(huán)節(jié)激發(fā)出來，從而剔除有缺陷的器件，提高器件使用可靠性。
標準設(shè)計更安全：內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計防止結(jié)露滴水，符合guo家安全容器規(guī)范；
多重保護功能：各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機保護；
穩(wěn)定性geng高：控制模式分為干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式，確保測試穩(wěn)定性；
濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設(shè)定；
智能化高：支持電腦連接，利用usb數(shù)據(jù)、曲線導出保存。
