Langer射頻耦合套組（IC測試系統）P1401/P1501 set介紹：
P1401/P1501機組或 P1402/P1502機組可分別用于測量1GHz 和3GHz 頻率范圍內的集成電路(IC)對磁場和電場的抗擾度。P1401或 P1402場源用于產生磁測試場，P1501或 P1502場源用于產生電測試場。
Langer射頻耦合套組（IC測試系統）
品牌：Langer EMV-Technik
型號：P1401/P1501 set
射頻功率場耦合1GHz
Langer射頻耦合套組（IC測試系統）P1401/P1501 set介紹：
P1401/P1501機組或 P1402/P1502機組可分別用于測量1GHz 和3GHz 頻率范圍內的集成電路(IC)對磁場和電場的抗擾度。P1401或 P1402場源用于產生磁測試場，P1501或 P1502場源用于產生電測試場。通過使用間隔環將各自的場源定位在測試集成電路的上方，然后將其測試場施加到集成電路上以測量其對干擾的抗擾性。
Langer射頻耦合套組（IC測試系統）P1401/P1501 set配置:
1x P1401, 高頻磁場源（~1GHz）
1x P1501, 高頻電場源（~1GHz）
1x D70 h03
1x D70 h10
2x SMA-SMB 1 m, SMA-SMB 測量電纜
1x P1401 / P1501 case, System case
1x P1400 / P1500 m
簡短的介紹：
P1401型磁場源檢測集成電路在高頻磁場下的抗干擾性。受測集成電路處于工作狀態。P1401型磁場源與功率放大器和高頻信號發生器連接使用。
P1501型電場源檢測集成電路在高頻電場下的抗干擾性。受測集成電路處于工作狀態。P1501型電場源與功率放大器和高頻信號發生器連接使用。
