歐美克 TerraSpec 4系列礦物質(zhì)分析近紅外光譜儀

TerraSpec 4系列礦物質(zhì)分析近紅外光譜儀在地質(zhì)研究領(lǐng)域, TerraSpec系列近紅外礦物質(zhì)分析儀已經(jīng)是被廣泛認可的分析技術(shù)。

歐美克 TerraSpec 4系列礦物質(zhì)分析近紅外光譜儀產(chǎn)品簡介：

在地質(zhì)研究領(lǐng)域, TerraSpec系列近紅外礦物質(zhì)分析儀已經(jīng)是被廣泛認可的分析技術(shù)。

TerraSpec 4高分辨率礦物質(zhì)分析儀具有高度便攜性的和無線纜通訊設(shè)計, 擁有達到6 nm分辨率,幫助以快速的實現(xiàn)礦產(chǎn)勘探目標(biāo)。

TerraSpec特別針對顏色更深更暗的礦物特征的樣品，其在SWIR 1和2區(qū)域具備增強的性能，

以更快、更準確的現(xiàn)場無損光譜數(shù)據(jù)采集。這在測定高嶺石、和伊利石等重要的矢量礦物時，具有更好的野外準確度。

這些改進還可以更準確評估以前難以測量的低濃度和低反射礦物，比如含鐵礦物中的蛇紋石和綠泥石等。

歐美克 TerraSpec 4系列礦物質(zhì)分析近紅外光譜儀特點：

. 具有可靠的高性能

. 高分辨能力的分析巖石和礦物質(zhì)種類

. 堅固耐用、可靠

. 結(jié)果直讀

. 通常選擇接觸式探頭，用于礦物巖石，爆破碎片和礦核

早中期勘探

– 近紅外光譜儀是用于勘探定位礦物聚集的理想方法

– 采用譜庫檢索工具識別蝕變礦物有助于定位礦物質(zhì)

– TerraSpec4 Hi-Res具有更高高分辨能力的光譜

中后期勘探

– 尋找更多開發(fā)基地

– 界定礦體的地理邊界

– 鉆井過程地質(zhì)核心/鉆芯片

勘探后期及生產(chǎn)

– 提供化學(xué)定量模型開發(fā)所需的分辨能力

– 快速定量礦物學(xué)的和物理性質(zhì)信息。

– 鑒定礦產(chǎn)資源或礦石儲量以進一步加工

– 了解不同位置礦體的變化