雙通道7%位采樣萬用表
顯著縮短測試時間
雙測試系統密度
存儲高達2750萬個讀數
結構組成
DMM7512由兩個彼此獨立的相同7%位DMM7510數字萬用表(DMM)組成相比DMM7510具有更多測量功能
兩個DMM7512數字萬用表具有與DMM7510相同的精度、靈敏度和速度因此DMM7512可以無縫集成到以前采用DMM7510的測試系統中
產品特點
使用速度為1M采樣/秒的18位數字化儀對復雜波形進行采樣存儲高達2750萬個讀數
以01uQ和1pA靈敏度測試用于低功率電路中的組件使用高達14ppm的1年期精度直流電壓通過高測試不確定度比率實現測試質量內置測試腳本處理器(TSP)可在無需控制器交互的情況下執行測試序列，從而減少測試時間和通信開銷，同時利用控制器執行其他任務
直流電壓測量范圍: 100.00000 mV4 1000.0000 mV4.6，分辨率: 10nV電阻測量范圍: 1.0000000Q ~10000000GQ17，分辨率: 0.1uA直流電流范圍: 1.0000000 ~10000000GQ，分辨率: 1pA
雙測試系統密度
在1U高機架空間內使用兩個DMM，節省寶貴的機架空間與兩臺2U高DMM7510相比您可以在一半的空間內獲得兩倍的測量能力
特點
將源和測量與2606B高密度4通道源測量單元(SMU)和DMM7512相結合可實現4通道采樣和2通道測量功能，而占用的機架空間僅為2U無需在DMM7512或2606B之間提供額外空間以用于熱管理
顯著縮短測試時間
每臺DMM7512中的兩個DMM具有內置智能可以使用其測試腳本處理器(TSP)技術在無需PC交互的情況下執行測試程序此外，每個DMM都具有TSP-Link@硬件接口因此一臺儀器可以控制主從配置中的其他儀器
特點
在TSP-Link測試系統中最多可控制32臺儀器消除儀器和PC之間耗時的通信以低于500ns的延遲同步測量值。DMM7512TSP代碼與DMM7510TSP代碼兼容
