一、概述
電氣設(shè)備檢修技術(shù)的發(fā)展大致可以分為三個(gè)階段，即故障檢修、定期檢修和狀態(tài)檢修，狀態(tài)檢修以可靠性為主，它是根據(jù)設(shè)備的狀態(tài)而執(zhí)行的預(yù)防性作業(yè)。作為電力系統(tǒng)運(yùn)行的首要要求，供電可靠性日益凸顯其重要性，因此狀態(tài)檢修逐步取代了以往的定期預(yù)防性檢修。狀態(tài)檢修通過(guò)對(duì)設(shè)備關(guān)鍵參數(shù)的測(cè)量來(lái)識(shí)別其已有的或潛在的劣化跡象，可在設(shè)備不停運(yùn)的情況下對(duì)其進(jìn)行狀態(tài)評(píng)估。
高頻局部放電巡檢儀針對(duì)帶電巡檢的特點(diǎn)，采用高頻電流及超聲波兩種檢測(cè)法，其體積小，性能優(yōu)異，易于操作。可對(duì)電纜、變壓器（電抗器）等接地線進(jìn)行測(cè)量。本系統(tǒng)采用現(xiàn)代電子和計(jì)算機(jī)綜合技術(shù)，實(shí)現(xiàn)信號(hào)放大（模擬、電子、數(shù)字）、濾波、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理、圖形顯示、試驗(yàn)報(bào)告自動(dòng)生成，從而完成局部放電的測(cè)量、分析。
二、引用標(biāo)準(zhǔn)
- 局部放電測(cè)量GB/T 7354
- 電力設(shè)備局部放電現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量導(dǎo)則 DL/T 417
- 高電壓試驗(yàn)技術(shù) 部分：一般試驗(yàn)要求 GB/T 16927.1
- 高電壓試驗(yàn)技術(shù) 第二部分：測(cè)量系統(tǒng) GB/T 16927.2
- 高電壓試驗(yàn)技術(shù) 第3部分: 現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)的定義及要求 GB/T 16927.3?
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三、技術(shù)參數(shù)
| 主機(jī)參數(shù) |
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| 可檢測(cè)通道數(shù) | 2個(gè)通道，1個(gè)HFCT通道，1個(gè)US通道 |
| 采樣精度 | 12bit |
| 觸發(fā)方式 | 內(nèi)同步，外同步 |
| HFCT參數(shù) |
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| 檢測(cè)帶寬 | 0.5M-30MHz |
| 傳輸阻抗 | >5mV/mA(10MHz ) |
| 輸出阻抗 | 50Ω |
| 檢測(cè)靈敏度 | 5pC |
| 測(cè)量范圍 | -20~80dB |
| 測(cè)量誤差 | ±1dB |
| 分辨率 | 1dB |
| 輸出接口 | 標(biāo)準(zhǔn)BNC |
| US參數(shù) | |
| 頻率范圍 | 20kHz-300kHz |
| 輸出阻抗 | 50Ω |
| 檢測(cè)靈敏度 | 0.1mV |
| 測(cè)量范圍 | 0.1mV～1V |
| 輸出接口 | 標(biāo)準(zhǔn)BNC |
| 硬件 | |
| 顯示屏 | 4.3” TFT真彩色液晶顯示屏 |
| 分辨率 | 480×272 |
| 操作 | 薄膜按鍵 |
| 存儲(chǔ) | SD卡標(biāo)配4G卡，支持32G |
| 接口 | 3.5mm立體聲耳機(jī)插孔 |
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| DC-005低壓直流充電器輸入口 |
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| 充電LED指示燈 |
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| RS232調(diào)試口 |
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| USBD同步口 |
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| USB2.0 |
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| 網(wǎng)口 |
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| SD卡插槽 |
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| CH1：SMA外部HFCT互感器輸入口 |
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| US：SMA外部HFCT互感器輸入口 |
| 電源 |
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| 內(nèi)部電源 | 電池供電（16.8V鋰電池） |
| 正常工作時(shí)間 | 約7小時(shí)，充滿時(shí)間約5小時(shí) |
| 尺寸 | |
| 長(zhǎng)×寬×高 | 235mm×133mm×48mm |
| 重量 | 0.85kg |
| 環(huán)境 |
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| 使用環(huán)境溫度 | -20℃至50℃ |
| 存儲(chǔ)環(huán)境溫度 | -40℃～70℃ |
| 濕度 | 10%-90%（非冷凝） |
| 海拔高度 | ≤3000m |
