Hi-Q光學測試測量系統
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美國OEwaves公司的HI-Q光學測試測量系統提供了自動化地測量連續激光器或激光光源的超低相位噪聲測量。這個光學測試測量系統能夠快速地測量激光相位噪聲，評估其線寬的半高寬度低至< 3 Hz,而無需復雜的測試架構和參考激光即可作這樣的窄線寬測量。
該系統在寬帶測量方面是無二的，它不要求另外的低噪聲參考激光光源。該系統操作簡單、方便、快速、精度高，且無需附加額外的測試設備。這臺無二的超低相位/頻率噪聲分析儀可擴展到不同的輸入波段，并用于低相對強度噪聲測量。
特點：
? 超低相位/頻率噪聲測量
? 快速實時測量
? 即刻和擴展的FWHM線寬分析
? 不需要低噪聲參考光源
? 用戶友好界面
? 簡單的基于PC的操作
? 3U x 19英寸機架系統
? 可定制的配置、升級和選項
光學測試測量系統 | |
| 型號 | OE4000 |
| 波長 | 1530 – 1565 nm |
| 動力學范圍 | 60dB |
| 光學輸入功率范圍 | +5 to +15 dBm (PM-FC/APC) |
| 測量類型 | 頻率噪聲/零差相位 |
| 數據存儲與I/O | HDD / USB端口 |
| 帶寬分辨率 | 0.1 Hz – 200 kHz |
| 電源電壓 | 110 / 120 or 220 / 240 Vac ; 50 / 60Hz |
| 光學測試測量系統尺寸 | 3U x 19英寸機架式 |
| 低或高輸入功率范圍 | 可選 |
| 波長范圍(可選) | 740 – 935 / 965 – 1065 / 1000 – 1100 / 1260 – 1360 / 1530 – 1625 / 1950 – 2150 (nm) (選擇多波長范圍以及定制波長范圍請咨詢) |
可選擇的配置：
? 在630 nm - 2200 nm范圍內多個輸入波段
? 超低噪聲基底
? 相對強度噪聲測量
? 擴展的偏移頻率范圍可達2 GHz
? 擴展的輸入功率范圍
? 遠程操作
? 性能和頻率
? 定制范圍選擇和升級
