特點:
Surfix F鐵基膜厚儀碳化鎢超耐磨測頭,特快反應速度
同屏顯示統計數據
可存儲前200測值
Surfix F外置探頭鐵基統計型膜厚儀可測鐵基體上涂鍍層
基體上涂層,量程1500μm
精度±1μm+1%讀數.分辨率0.1μm,讀數背景光
有紅外可接PC及打印機
膜厚儀技術參數： | |
測量范圍 | 0-1500µm,0 - 60mils |
誤差 | ±(1µm+1%讀數） |
分辨率 | 0.1µm或小于讀數的2% |
顯示 | 背光，字母加數字，10mm高，4位數字顯示 |
基體*小面積 | 5mmX5mm |
基體*小曲率 | 凸面：1.5mm凹面：5mm |
基體*小厚度 | F型：0.2mm ,N型： 50µm |
校準 | 廠家校準，零校準，校準箔校 |
數據統計(統計型) | 讀數個數(*多9999個)，平均值，標準偏差，*大值和*小值 |
數據存儲(統計型) | *多200個測量數值,可單獨調出 |
數據值(統計型) | 上下限可調,聲音報警 |
數據接口 | 紅外通訊,IrDA標準 |
環境溫度/表面溫度 | 0-50℃/60℃（可選配150℃） |
電源 | 兩節1.5伏五號堿性電池 |
儀器尺寸 | 137x66x23mm |
符合標準 | DIN，ISO，ASTM，BS |
