◆ 光學(xué)系統(tǒng)：DF-410采用適應(yīng)CCD采集的C-T光學(xué)系統(tǒng)，平場采樣，全譜接收。
◆ 新型全譜接受裝置，實現(xiàn)140nm-750nm全波段譜線分析。
◆ 獨立的光譜采集、處理模塊。高性能的ARM處理器，實時操作系統(tǒng)，優(yōu)化的數(shù)據(jù)處理算法，縮短了分析時間，提高了儀器的分析精度。
◆ 特制的溫度控制系統(tǒng)。降低了能耗，溫度控制范圍在+/-0.2℃，提高了儀器的穩(wěn)定性。
◆ 數(shù)字化光源Ⅱ-E型的采用。低故障，高能量，滿足超高含量和痕量元素分析。
◆ 新型氣路設(shè)計。增加了火花臺積灰沖洗功能，主從氣路可調(diào)，氣路板密封功能。減少氬氣流量，減少火花臺積灰，縮短開機氬氣氛圍的建立時間。
◆ 可分析鐵、銅、鋁、鋅、鎳、錫、鈦、鎂等多種基體；
◆ 軟件功能齊全、數(shù)據(jù)顯示靈活，可設(shè)置碳當(dāng)量等各種偽元素顯示，并具有多種可選的報告打印格式。
◆ 外觀尺寸及重量：長970mm，寬415mm，高640mm；重量約為130Kg。
◆ 儀器功率：功率800W，待機功率100W。
