1.機臺功能：
IC 之斷/短路測試
自動I / V 曲線量測與比對分析
IC Power Pin Bias or IC Power Pin不加電壓之漏電流量測
IC 靜態 or standby 時之 Idd電流量測
功能預處理（用于測量 VOH 和 VOL 等基本參數）
Low Resistance measuring by 4 wire kelvin test method
可以滿足客戶在 IC零件之Open/Short量產測試 & DC Fail 上之失效分析需求!
2.測試通道：(標準)64 Test channels , max.可擴充至 8192 channels
可滿足客戶在high pin count IC 零件上之測試及分析需求!
3.SMU(Source Measure Unit)： (標準配備)具有3組SMU, max.可擴充至5組SMU。
可以提供電流源 or 電壓源, 亦即: 送電流 / 量電壓 or 送電壓 / 量電流 。
可以量測 IC在Bias狀態下之Powered Curve Tracer & Powered Leakage Test !
4.SMU 之 I / V Measuring SPEC. 電流/電壓量測范圍：
5.可外加搭配 Keithley 2400/2600 Source Meter for High Voltage or Low Current量測, 以滿足多元化 IC 產品之量測分析需求! ( OPTION )
6.Smart-1 System Configuration: Switching Matrix 標準配備為 4 x N Matrix Relay Switch ,最多可擴充至 7 x N Matrix Relay.
7.Universal DUT Board design : 方便user 操作使用, 節省 set-up 時間 亦可配合客戶需求設計制作客制化之 DUT Board。
8.量測方法&步驟：可選擇Pin to All , All to Pin , Pin to Pin , Pin to Pins, Pins to Pin, Pins to Pins ,Pins to All, All to Pins 之量測方式 , 以滿足多元化產品之測試需求!
9.每個測試步驟的 force_delay_measure 之設定時間：0.3ms , 最慢3000ms 。
10.Open/Short快檢模式：具有All to Pin , Pin to All之快檢測試模式, 可快速篩出有Open/Short 之Pin腳, 并可分出不同的Power /GND group , 以節省量測分析時間。
11.Open/Short Test具有Autoset(Auto Learning)功能 : 可自動分類哪些 IC PIN腳是 NC Pin, PASS Pin, Low Pin, Short Pin, Power Pin, GND Pin.以便建立正確的Test Program。
12. 檢視 Open/Short 之測試結果, 可選擇 IC之 Pin Index or Ball No. or Function Name， 方便 user 解讀！
13. 量產測試模式:機臺可搭配自動化之Handler做大量之生產測試 or 敲Keyboard 之空格鍵 進行手動模式之量產測試。
Open/Short 之Production Test Report: 量產測試報告格式 ( 可加入 Report Title )
14.I-V Curve量測方式: 可選擇手動(2 Probe) Pin to Pin之量測方式, 快速找出Fail Pin , or 計算機設定好程序后自動量測每一Pin腳之I/ V Curve,以節省分析時間, 非常具有彈性與便利!
15.Auto I / V Curve Tracing Function : can Automatic Scan & Plot each pin I / V curve .
16.I / V Curve 比對功能: 可以量取一Known-Good-Device 之I / V Curve, 然后與未知之 待測Sample 做比對, 可快速篩出有問題之sample, 非常便利! 而且可將量到的 I / V Curve 儲存下來, 留待下次分析同一款產品時, 將檔案開啟, 并繼續做迭圖分析比對。
17.可以在量測的 I-V curve畫面編輯文字內容, 方便客戶判讀 !
18.Auto I-V Curve compare function：可自動比對二顆 IC 所有 Pin 腳之 I-V Curve & 顯示 每一pin之 I-V 量測 data & Fail Pin information。
