TSI 3936 3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀

產品詳情

TSI 的 3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀是一種高分辨率納米粒子粒徑分析儀，長期以來一直被譽為是進行包括納米研發在內的納米應用納米粒徑表征的研究人員之選擇。

TSI 的 SMPS™ 粒徑譜儀廣泛用作檢測空氣懸浮粒子粒徑分布的標準方法。這些粒徑譜儀也經常用于對液體中懸浮的粒子進行精確的納米粒徑檢測。.美國國家標準與技術研究所 (NIST) 采用 TSI DMA 對液體中懸浮的 60nm 和 100nm 標準參考物質進行分粒（聚苯乙烯乳膠球或 PSL 球）。

SMPS™ 粒徑譜儀粒徑檢測技術是一種謹慎的技術，它可直接檢測粒子濃度，而無需假定粒子尺寸分布形狀。這種方法獨立于粒子或流體的折射率，具有高度的尺寸精度和檢測可重復性。TSI 3936 掃描電遷移率粒徑分布譜儀 (SMPS) 深受科研人員的信賴，已提供了三十多年的高質量數據。

特點和優勢

• 高分辨率數據 – 多達 167 個通道
• 寬粒徑范圍 – 2.5 nm 至 1,000 nm
• 快速檢測 – 16 秒內完成粒徑分布
• 1 - 10⁷粒子/cm³的寬濃度范圍
• 靈活的配置選項；水或丁醇 CPC 工作溶液選擇；放射性或非放射性中和器選擇
• 計算機自動化流量控制
• 符合 ISO 15900:2009 標準要求的粒徑檢測方法
• 易于配置和操作
• 謹慎的粒子檢測： 適用于多模式樣本，不受粒子的光學特性約束。

應用范圍

• 納米科技研究和材料合成
• 大氣研究和環境監測
• 燃燒和發動機排氣研究
• 室內空氣質量檢測
• 成核研究/凝結研究
• 吸入毒理學研究

所含項

• DMA 可選式靜電分級器
• 六個 CPC 之一
• Aerosol Instrument Manager® 軟件