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儀器廠商：美國J.A.Woollam公司
型 號：M-2000DI
到貨日期：2008.4.19
技術指標：
● 波長范圍：190~1700 nm
● 光譜分辨率：1.6 nm（波長小于1000 nm）；3.7 nm（波長大于1000 nm）
● 自動入射角范圍：45~900
● 自動樣品臺：150 mm*150 mm
● 旋轉補償器，Ψ可測范圍0~900，Δ可測范圍0~3600
主要用途：
用于單層或多層透明或半透明薄膜的厚度和光學常數的測定，廣泛應用于物理、化學、材料、生物、高分子、光學鍍膜、太陽能電池、平板顯示等領域的研究。
| 產品名稱 | 參考價 | 地區 | 公司名稱 | 更新時間 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 分光橢偏儀SEMILAB在線光譜橢偏儀SE-3000 | ￥39000 | 重慶市 | 重慶津澤機電科技有限公司 | 2023-03-27 | 在線詢價 |
| 全光譜橢偏儀SE950 | 面議 | 深圳市 | 深圳市上德機電有限公司 | 2025-04-09 | 在線詢價 |
| JBG2021-W36自動橢偏儀 | 面議 | 上海 | 上海中晨數字技術設備有限公司 | 2025-01-28 | 在線詢價 |
| JBG2021-W72自動橢偏儀 | 面議 | 上海 | 上海中晨數字技術設備有限公司 | 2025-01-28 | 在線詢價 |
| JBG2021-W6自動橢偏儀 | 面議 | 上海 | 上海中晨數字技術設備有限公司 | 2025-01-28 | 在線詢價 |
| AutoSE-一鍵式全自動快速橢偏儀 | 面議 | 上海 | 翌穎科技（上海）有限公司 | 2024-09-24 | 在線詢價 |
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