用于高級材料研究的顯微鏡系統(tǒng)
將易操作性引入顯微工作流程 - Axio Imager 2 確保在質(zhì)量檢驗和流程控制中提供精準且可重復的結果。
Axio Imager 2 擁有出色的光學鏡頭和均勻照明的特性。觀察方式和光路管理器能夠確保預設條件和可重復的結果。配置了 ACR 功能的 Axio Imager.Z2m 能自動檢測和選擇物鏡以及觀察方式模塊。
從四種不同的主機架中選擇您需要的系統(tǒng)，并借助專業(yè)解決方案擴展應用：Particle Analyzer、關聯(lián)顯微系統(tǒng)或 LSM 700。
Axio Imager 2 – 注重本質(zhì)
出眾的表面應用
Axio Imager.Z2m 或 Axio Imager.M2m 可以在觸摸屏上顯示關鍵操作功能，使用指尖控制所有電動組件。
其他控制按鈕依照人體工程學方式排列在調(diào)焦驅(qū)動裝置周邊，可通過觸覺輕易的區(qū)分各控制按鈕。
Axio Imager.D2m 有 5 個預編程按鈕，而 Axio Imager.Z2m 則有 10 個用戶自定義按鈕。
具有超高對比度和分辨率的出色光學系統(tǒng)
模塊化主機設計，利用一系列電動和編碼組件增強靈活度
穩(wěn)定的主機和無振動的工作環(huán)境能夠確保觀測結果的可重復性
使用激光共聚焦掃描顯微鏡 LSM 700 對 Axio Imager 2 進行升級
在關聯(lián)顯微系統(tǒng)的工作和顆粒度分析中使用 Axio Imager 2
在質(zhì)量檢驗和流程控制中，自動化功能可確保重復檢測結果的精準
觀察方式選擇
研究和檢測不同材料。分析金屬結構、復合材料、玻璃、木材和陶瓷。檢查聚合物和液晶。
多種觀察方式可供選擇，以獲得更多豐富的信息。使用反射光，在明場、暗場、微分干涉（DIC）、圓微分干涉（C-DIC）、偏光或熒光下觀察樣品。使用透射光，在明場、暗場、微分干涉（DIC）、偏光或圓偏光下檢測樣品。
觀察方式管理器能確保 Axio Imager 2 的照明設置可復制。
