| 產品名稱：UV762雙光束紫外可見分光光度計 |
| 產品型號：UV762 |
| 產品產地：上海 |
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- 關鍵元件采用進口元件，全新的光學系統設計，使儀器的主機具有優良的光學性能和測光性能，雜散光低，測光精確度和穩定可靠性高。
- 真正的雙光束測光系統，配合*的電路測控系統，使儀器具有較高的可靠性和極低的噪聲。
- 的氘燈和鎢燈安裝，光源自動切換及自動尋找位置的設計和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全．
- 采用大屏幕中文窗口(LED)液晶屏顯示，具有良好的人機對話界面．
- 優良的軟件設計和編制，使儀器有較強光譜數據處理功能：自動掃描測量光譜,多波長( 1-3λ)測定、動力學測定、１－３次曲線擬合、１－４階導數光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數據。
- 基于Windows平臺開發的強大軟件，界面友好，功能強大，方便您的存儲輸出，方便辦公，節省費用。
雙光束紫外可見分光光度計UV762性能指標：
- 波長范圍：200nm～1100nm
- 光譜帶寬：2nm
- 波長準確度：≤±0.3nm(開機自動校正)
- 波長重復性：≤0.2nm
- 透射比準確度：±0.5%(T)
- 透射比重復性：0.2%(T)
- 透射比測量范圍：0～200%T
- 吸光度測量范圍：-0.301～3.000A
- 雜光：≤0.15%(在220nm處，以NAI測定)
- 漂移：≤0.004A/H （500nm處）
- 噪聲：99%線噪聲≤0.15%T；0%線噪聲≤0.1%T
- 掃描速度：快 中 慢
