半導體激光器老化電源特點
準確度0.1%;
支持LIV掃描測試;
直流Z大60A輸出;
Z小脈寬100us;
電源抗浪涌設計;
豐富的掃描模式;
預留光電流、溫度/水流量監控、DIO接口;
支持多種通信接口:RS-232/LAN。
技術參數
HCPL系列半導體激光器老化電源具備CW及QCW輸出能力,單設備CW輸出電流可高達60A,輸出電壓可高達100V,可廣泛應用于大功率LED的LIV測試及老化、大功率半導體激光器的LIV測試及老化、肖特基二極管測試、整流橋堆測試等。設備支持多臺并聯來實現更大電流輸出,輸出電流精度及電壓測量精度均可達0.1%。基于普賽斯多年SMU研發經驗,產品集成了電壓測量、光電流測量、溫度監控、水流量監控等,特別適用于施加電流并同步測量的場景,可大幅度降低系統集成難度。
普賽斯以自主研發為導向,深耕半導體測試領域,在I-V測試上積累了豐富的經驗,先后推出了直流源表,脈沖源表、脈沖恒流源、脈沖恒壓源、功率器件靜態測試系統、大功率激光器老化測試系統等測試設備,廣泛應用于高校研究所、實驗室,新能源,光伏,風電,軌交,變頻器等場景。普賽斯全新升級S系列數字源表更大直流,更高精度,科研實驗B備源表,標準的SCPI指令集,上位機軟件功能豐富,半導體測試領域的經典產品!