A1、C、D、M 磁粉探傷試片

A1型磁粉探傷試片

供應A_1、 C、 D、 M₁ 標準試片，有意者請與本公司。

產品詳情

磁粉探傷靈敏度A型試片

A型靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質的工件，可以正確地選擇磁化規范

，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的

電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量。A型靈敏試片是磁粉探傷工作者*的調試工具。

特點如下：

試片用于磁粉顯示，圖像直觀，使用簡便，對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查形狀復雜的零件時，表現其的優點。

性能規格：

試片=1（um）適用于高靈敏度探傷，規格為（11-12）D;

=2（um）適用于中靈敏度探傷，為（8-9）D；=3（um）適用于低靈敏度探傷，規格為（5-6）D。括號中分子為

槽深，分母為試片厚度，單位為um(微米)，D為工件直徑。

使用方法：

選適當靈敏度的試片，將刻有槽的一面用膠帶紙緊密地貼在工件上（膠帶紙貼于試片兩邊緣，不要影響試片背面的

刻槽部位）。

進行外加懸場法，對工件進行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，

既是磁化電流）。

上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。

注意事項：

1. 試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，在用膠帶紙緊密地貼在工件上。

2. 試片用后請涂防銹油。

3. 試片有褶皺不平或破裂，會影響探傷靈敏度，不宜繼續使用。