CS2350H雙恒電位儀內置兩套恒電位/恒電流儀，每套恒電位儀各有一套輔助、工作和參比電極輸出，并由CS Studio測試軟件來協調輸出電位/電流，CS2150H是真正意義上的雙通道電化學工作站。
具體應用于：
1. 雙通道獨立使用，可同時進行兩組常規電化學測試；
2.雙通道組合使用，可用于電化學分析四電極工作體系，尤其在氧還原（ORR）中間產物收集、金屬氫擴散測試有廣泛應用。
技術優勢
CS2350H雙恒電位儀不僅具有CS單通道系列高精度、寬量程以及強大的數據分析處理功能，而且在原有產品的基礎上創新突破。 CS2350H國內的雙通道硬件設計可以實現兩組實現體系的測試要求，同時，軟件的組合編程功能大大提高了實驗的便利性。
典型案例：
1. 雙通道獨立測試
使用專用的電池測試夾，配合軟件的組合編程功能，給電池能源領域的用戶帶來更高效、更智能的測試體驗。
圖1.雙通道獨立測量參數設置界面
1. 配合旋轉環盤電極（RRDE）用于研究氧化還原體系 具體應用于：
1. 雙通道獨立使用，可同時進行兩組常規電化學測試；
2.雙通道組合使用，可用于電化學分析四電極工作體系，尤其在氧還原（ORR）中間產物收集、金屬氫擴散測試有廣泛應用。
技術優勢
CS2350H雙恒電位儀不僅具有CS單通道系列高精度、寬量程以及強大的數據分析處理功能，而且在原有產品的基礎上創新突破。 CS2350H國內的雙通道硬件設計可以實現兩組實現體系的測試要求，同時，軟件的組合編程功能大大提高了實驗的便利性。
典型案例：
1. 雙通道獨立測試
使用專用的電池測試夾，配合軟件的組合編程功能，給電池能源領域的用戶帶來更高效、更智能的測試體驗。
圖1.雙通道獨立測量參數設置界面
典型應用
在測量圓盤電極極化曲線的同時，將環電壓設置為恒電位，控制圓環電極在固定的極化電勢，用以檢測圓盤電極上產生的反應中間物，該方法也成為檢測反應中間物和研究電極反應機理的典型流體動力學方法。氧還原反應的電子轉移數和相應的雙氧水（中間產物）產率可分別通過公式測得：
其中知Idisk和Iring分別為測得的盤電流和環電流，電極收集效率N由盤環電極參數決定（常數）。將測試結果代入以上公式即可求得實際反應的電子轉移數n和H2O2（%）所占比例。 
兩個恒電位裝置配合Devnathan-Stachurski 雙電解池，通過左側電解池的陰極充氫和右側電解的氫原子陽極氧化電流測量，進而計算氫原子在金屬中擴散系數和氫通量。 
圖2.氧還原（ORR）中間產物檢測
3. 金屬中氫擴散測試：兩個恒電位裝置配合Devnathan-Stachurski 雙電解池，通過左側電解池的陰極充氫和右側電解的氫原子陽極氧化電流測量，進而計算氫原子在金屬中擴散系數和氫通量。
圖3.金屬中氫擴散控制
硬件參數指標
| 雙恒電位儀： 單恒電位電位控制范圍：±10V 雙恒電位儀電位控制范圍:±10V | 恒電流控制范圍：±2A |
| 電位控制精度：0.1%×滿量程讀數±1mV | 電流控制精度：0.1%×滿量程讀數 |
| 電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電流靈敏度：1pA |
| 電位上升時間：＜1μs(<10mA),＜10μs(<2A) | 電流量程：2A～2nA, 共10檔 |
| 參比電極輸入阻抗：1012Ω||20pF | 輸出電流：2A |
| 槽壓輸出：±21V | 電流掃描增量：1mA @1A/mS |
| CV和LSV掃描速度：0.001mV～10,000V/s | 電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS |
| CA和CC脈沖寬度：0.0001～65,000s | DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s |
| SWV頻率：0.001～100KHz | CV的最小電位增量：0.075mV |
| AD數據采集：16bit@1MHz，20bit @1kHz | 電流與電位量程：自動設置 |
| DA分辨率：16bit，建立時間：1μS | 低通濾波器 ：8段可編程 |
| 通訊接口：網口 | 儀器凈重：7.5Kg |
| 外形尺寸（cm）：36.5(W)X30.5 (D)X16 (H) |
電化學阻抗測量參數
| 信號發生器 | |
| 頻率響應：10μHz～1MHz | 交流信號幅值：1mV～2500mV |
| 頻率精確度：0.005% | 信號分辨率：0.1Mv RMS |
| 直流偏壓：-10V～+10V | DDS輸出阻抗：50Ω |
| 波形：正弦波，三角波，方波 | 正弦波失真率：<1% |
| 掃描方式：對數/線性，增加/下降 | |
| 信號分析器 | |
| 積分時間：106個循環或者105S | 測量時間延遲：0～105秒 |
| 最小積分時間：10mS 或者一個循環的最長時間 | |
| 直流偏置補償 | |
| 電位補償范圍：-10V～+10V | 電流補償范圍：-1A～+1A |
| 帶寬調整：自動或手動設置, 共8級可調 | |
配置：
1）儀器主機1臺
2）CS Studio測試與分析軟件1套
3）模擬電解池1個
4）電源線、網線各1條
5）電極電纜線2條
6）屏蔽箱（選配*）
CS2350H雙恒電位儀功能方法
穩態極化開路電位測量（OCP）、恒電位極化（i-t曲線）、恒電流極化、動電位掃描（TAFEL曲線）、動電流掃描（DGP）
暫態極化
任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、恒電位階躍（VSTEP）、恒電流階躍（ISTEP）
計時分析
計時電位法（CP）、計時電流法（CA）、計時電量法（CC）
伏安分析
線性掃描伏安法（LSV）、線性循環伏安法（CV）、階梯循環伏安法（SCV）、方波伏安法（SWV）、差分脈沖伏安法（DPV）、常規脈沖伏安法（NPV）、常規差分脈沖伏安法（DNPV）、差分脈沖電流檢測法（DPA）、雙差分脈沖電流檢測法（DDPA）、三脈沖電流檢測法（TPA）、積分脈沖電流檢測法（IPAD）、交流伏安法（ACV）、二次諧波交流伏安（SHACV）、傅立葉變換交流伏安（FTACV）
溶出伏安
恒電位溶出伏安、線性溶出伏安、階梯溶出伏安、方波溶出伏安、差分脈沖溶出伏安、常規脈沖溶出伏安、常規差分脈沖溶出伏安、交流溶出伏安
交流阻抗
電化學阻抗（EIS）～頻率掃描、電化學阻抗（EIS）～時間掃描、電化學阻抗（EIS）～電位掃描（Mott-Schottky曲線）
腐蝕測量
循環極化曲線（CPP）、線性極化曲線（LPR）、動電位再活化法（EPR)、電化學噪聲（EN）、電偶腐蝕測量（ZRA）、氫擴散測試
電池測試
電池充放電測試、恒電流充放電、恒電位充放電、恒電位間歇滴定技術（PITT）、恒電流間歇滴定技術（GITT）
擴展測量
盤環電極測試、數字記錄儀、波形發生器、圓盤電機控制、其它外設擴展端口（定制）
