| 應用: | |
| 適用于線路板,五金電鍍,電子元器件等行業 | |
| 產品簡介: | |
韓國Micro Pioneer XRF系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,不單性能*,而且價錢.只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業的.可測量各類金屬層、合金層厚度. 可測元素范圍： 鈦(Ti) – 鈾(U) 可測量厚度范圍： 原子序22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm X-射線管：油冷,超微細對焦 高壓：0-50KV(程控) 準直器： 固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm 自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm 綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層. 定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. 光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度. 統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質. | |
