LJD-C型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)：
雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。
LJD-C型介電常數(shù)測(cè)試儀概述：
LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)：
雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。
雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。
全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路*化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。
LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具，測(cè)量值更為精確，測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì)，無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要技術(shù)特性：
Q 值測(cè)量范圍: 2 ～ 1023,量程分檔：30100﹑300﹑1000，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔
固有誤差:≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ～ 10MHz ),≤6% ± 滿度值的2%(10MHz～160MHz)
工作誤差:≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ～ 10MHz ),≤8% ± 滿度值的2%(10MHz～160MHz)
電感測(cè)量范圍: 4.5nH ～ 140mH
電容直接測(cè)量范圍: 1 ～ 200pF
主電容調(diào)節(jié)范圍: 18 ～ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %
信號(hào)源頻率覆蓋范圍: 100kHz ～ 160MHz
頻率分段 ( 虛擬 ): 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
頻率指示誤差 :3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀夾具工作特性
1.平板電容器：
極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測(cè)微桿分辨率：0.001mm
配置：
主機(jī)一臺(tái)
電感九支
夾具一套
隨機(jī)文件一套
