ICP等離子發射光譜儀SPECTRO GENESIS

SPECTRO GENESIS ICP全譜直讀等離子發射光譜儀
  采用 ICP激發源和半導體固態檢測器的全自動發射光譜同時檢測的全譜直讀發射光譜儀，用于對液體樣品中各種元素的定性、半定量和定量分析。可以檢測72個元素，檢測范圍PPB-35%
部分元素檢出限：（單位：PPB）
     Ag:0.5、 Al:0.6、 As:2.5、 Au:4、 B:0.3 、Ba:0.2 、Be:0.5 、Bi:1 
      Ca:0.5、 Cd:0.1、 Ce:5、 Co:0.2、 Cr:0.4 、Cu:0.4 、Fe:0.2、 Ga:2  
      Gd:3、 Ge:2、 Hg:1、 n:5、 Ir:6、 K:1.7、 La:0.5、 Li:0.3、 Mg:0.3 
      Mn:0.05、 Mo:0.5、 Na:0.9、 Ni:0.3、 Os:10、 P:6.5、 Pb:1.1、 Pd1.2  
      Pt:2.2、 Re:4、 Rh:4、 Ru:1.1 、S:6 、Sb:1.5 、Se:2.5 、Si:1.5、 Sn:1.8 
      Te:5、 Ti:0.1、 V:0.35、 Y:0.4、 Zn:0.2、 Zr:0.2

  應用SPECTRO側向等離子體接口（SPI）的側向觀測等離子體用于高濃度和主成分檢測、高固含量和有機物分析，可以提高線性范圍、準確度和精度。

  利用優化的層流、低流速吹掃機理的SPI保證光路中無氧氣、減少對紫外區波長的吸收。這個技術可保證易維護的入射光學組件不受污染，使得175-190nm光譜范圍的譜線的穩定和超常的靈敏度。

  用于工業分析的工廠預校準分析方法包。下面是可供選擇的方法包：
工業廢水（只有基本的方法）、污泥、土壤、油品中磨損金屬/添加劑、礦石、金屬材料

分光系統：
  恒溫在+30C  0.1C；中空防熱彭脹雙帕邢－龍格羅蘭圓設計；焦距400mm；全息凹面原光柵，刻線密度2400刻線/mm；石英光學部件；全部是1級波長覆蓋；波長范圍：175 - 777 nm；入射狹縫：15 μm

檢測器：
  根據所在波長精心選擇并進行化設計的15個線性CCD連續排列在羅蘭圓上；分辨率14pm；與光學系統一樣恒溫在；動態范圍為108，全波長覆蓋，ICAL自動標準化

紫外系統：
  氬氣吹掃系統, 化低流量吹掃(只在分析190nm以下元素時使用)

高頻發生器：免維護型，頻率為27.12MHz，發生器功率：0.7 to 1.7 kW

進樣系統及炬管單元
• Lock-in-Place快速換裝設計
• Gas flows under full computer control氣體流量全部由計算機控制
o Plasma gas等離子氣  : 0 – 20 l/min in 0.1 l/min increments
o Auxiliary gas輔助氣  : 0 – 3 l/min in 0.01 l/min increments
o Nebulizer gas霧化氣  : 0 – 1.5 l/min in 0.01 l/min increments 
• 計算機控制4速、3通道、12滾軸進樣蠕動泵