產地：瑞士
納米壓痕測試儀采用了UNHT（超納米壓痕儀）的*技術，其靈敏度及噪音水平和穩定性得以顯著提高。采用*的top reference（表面參比測試技術）設計, NHT2 納米壓痕儀將熱漂移效應（thermal drift）降低到了0.02nm/s的水平。客戶不需要軟件模擬近似扣除即可獲得可靠、穩定的數據，也不需要長期甚至隔夜的穩定時間，對實驗室的環境要求大為降低。
儀器應用：
NHT2 納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應力-應變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性。可適用于有機或無機、軟質或硬質材料的檢測分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學薄膜，微電子鍍膜，保護性薄膜，裝飾性薄膜等等。基體可以為軟質或硬質材料，包括金屬、合金、半導體、玻璃、礦物和有機材料等。
主要特點：
*的參比環設計-實時消除大部分熱漂移
帶有反饋系統的載荷加載系統
靈活的試樣夾具可夾持各種尺寸試樣（無需用膠粘結試樣）
高質量金相顯微鏡觀測系統
計算機軟件包，自動進行數據獲取、儲存、分析等
豐富、靈活的擴展空間
技術參數：
載荷范圍：0-500mN
載荷分辨率：40nN
壓入深度：200um
位移分辨率： 0.004nm
選件：
其它力學測試模塊（如微納米劃痕、超納米壓痕等）
真空及環境(溫度、濕度）控制
原子力顯微鏡成像系統
環境隔離罩
