精科SGW X-4單目顯微熔點儀

精科SGW X-4單目顯微熔點儀

精科SGW X-4單目顯微熔點儀的適用范圍：
·用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機化合物之熔點測定，顯微鏡觀察；
·既可用毛細管示測定，又可用載玻片－蓋玻片法(熱臺法)測定；
·測定物質的熔點；
·測量范圍：室溫至320℃；
·*小讀數單位：0.1℃；
·測量重復性：≤ 200℃：±1℃；＞200℃：±2℃；
·線性升溫速率：0.5，1，1.5，3(°C/min)；
·光學放大倍數：單目顯微鏡,40倍，目鏡10X，物鏡4X。
精科SGW X-4單目顯微熔點儀的主要用途:
·物質的熔點是指該物質由固態變為液態時的溫度。在有機化學領域中，熔點測定是辨認該物質本性的基本手段，也是純度測定的重要方法之一；
·目視顯微熔點測定儀是研究、觀察物質在加熱狀態下的形變、色變及物質三態轉化等物理變化過程的有力檢測手段；
·本儀器可用載波片方法測定物質的熔點、形變、色變等；也可用藥典規定的毛細管方法測其熔點，尤其對深色樣品，如醫藥中間體、顏料、橡膠促進劑等的熔點，并能自始自終觀察到其熔化的全過程。
易測WRX-4單目顯微熔點儀的主要特點:
1.本儀器使用毛細管法進行測量；
2.根據特殊要求，本儀器也可用載波片——載波片法進行測量；
3.本儀器采用LED數字顯示熔點溫度值；
4.本儀器采用熱臺控制系統和顯微鏡組合成一體的結構，簡單可靠，使用方便；
5.升溫速率連續可調。
我們建議你采用1℃/分的升溫速率測量熔點的溫度值，在*次使用時記錄下1℃/分的升溫速率時的波段開關和電位器的編號，則以后用此位置就能得到你的所要求的升溫速率。并請注意：
（1）室溫的影響；在同樣波段開關和電位器的編號下，室溫越低，升溫速率越慢；
（2）電子元件的影響：電子元件的老化，升溫速率一定時，其電位器的編號會有所變化，只要進行微調即可。
（3）編號越大，升溫速率越快。
精科SGW X-4單目顯微熔點儀的技術參數:
1.顯微鏡采用4倍物鏡，10倍目鏡；
2.測量范圍：室溫～320℃；
3.測量精密度：室溫～200℃的誤差±1℃；200℃～320℃的誤差±2℃；
4.電源：220V，50HZ；
5.功率：80W。
易測WRX-4單目顯微熔點儀的結構原理:
·本儀器顯微鏡、加熱臺為一體結構，溫度檢測器為插入式使用方便，顯微鏡用來觀察樣品受熱后的反映變化及熔化的全過程。
·加熱臺用電熱絲加熱，并帶有風機，可快速降溫。
·可用載波片法測量，也可用毛細管測量熔點。
易測WRX-4單目顯微熔點儀的操作方法:
1.對新購儀器，電源接通，開關打到加熱位置，從顯微鏡中觀察熱臺中心光孔是否處于視場中，若左右偏，可左右調節顯微鏡來解決。前后不居中，可以松動熱臺兩旁的兩只螺釘，注意不要那下來，只要松動就可以了，然后前后推動熱臺上下居中即可，鎖緊兩只螺釘。在做推動熱臺時，為了防止熱臺燙傷手指，把波段開關和電位器扳到編號*小位置，即逆時針旋到底；
2.進行升溫速率調整，這可用秒表式手表來調整。再秒表某一值時，記錄下這時的溫度值，然后，秒表轉一圈（一分鐘）時在記錄下溫度值。這樣連續記錄下來，直到你所要求測量的熔點值時，其升溫速率為1℃/分。太快或太慢可通過粗調和微調旋鈕來調節。注意即使粗調和微調旋鈕不動，但隨著溫度的升高，其升溫速率會變慢；
3.測溫儀的傳感器上，把其插入熱臺孔到底即可，若其位置不對，將影響測量準確度；
4.要得到準確的熔點值，先用熔點標準物質進行測量標定。求出修正值。（修正值=標準值- 所測熔點值），作為測量時的修正依據。注意：標準樣品的熔點值應和你所要測量的樣品熔點值越接近越好。這時，（樣品的熔點值=該樣品實測值+修正值）；
5.對待測樣品要進行干燥處理，或放在干燥缸內進行干燥，粉末要進行研細；
6.當采用載玻片測量時，建議該蓋玻片（薄的一塊）放在熱臺上，放上藥粉，再放上載波片測量；
7.在數字溫度顯示*小一位（如8或7之間跳動時）應讀為8.5℃；
8.在重復測量時，開關處于中間關的狀態，這時加熱停止。自然冷卻到10以下時，放入樣品，開關打到加熱時，即可進行重復測量；
9.測試完畢，應切斷電源，當熱臺冷卻到室溫時，方可將儀器裝入包箱內。
精科SGW X-4單目顯微熔點儀的常見故障處理：