產品概述
高性能“即插即用”模塊，即可擴展功能又可擴展通道
64MS/s平滑掃描-LSV、LSP、CV
高達1MS/s數據采集-脈沖、CV
100aA電流分辨率
±25A電流-掃描/脈沖
±100V槽壓與極化
10μΩ 微阻抗測量
＞100TΩ 超高阻抗測量
- 多種高速EIS技術
產品介紹
ModuLab XM多功能電化學工作站是一款專注于測量Xtreme Measurement的電化學量測系統，它能夠用于測量超低微歐阻抗（如一代的鋰電池及燃料電池）；能夠用于精確表征超高阻抗（如腐蝕涂層，絕緣材料）。 這個系統采用的AC校正技術，確保每次測量的超精準。每一臺儀器都在出廠前經過獨立的校準，使您準確測量的必選。
超低阻抗測量
ModuLab XM ECS 可以通過內置及外置電流放大器的使用，完成超低微歐阻抗的測量。適合于新一代低阻電池（鋰離子電池，燃料電池）研究的測試要求。
下圖顯示的是10微歐及100微歐阻抗的測試結果。
陽極/陰極/電池組同步測試 ModuLab XM ECS集合了功率放大器，高施加電壓和輔助差分電壓輸入等一系列高性能模塊，為新一代超低阻能源器件研究提供了的表征技術。XM不僅可以對整體電池或電池組整體進行直流和交流阻抗測試，而且可同時對電池正負極或者電池組中的單個電池進行直流和阻抗測試（可測電堆的電壓高達100V）。XM高精度的測試能力使您的電池失效被檢測出來成為可能，節約了時間并大大提高了您的測試效率。 左圖為鋰離子電池組的高靈敏度測試結果，同時顯示了電池組整體阻抗及電池組中單個電池阻抗數據
可擴展模塊化設計 ModuLabXM 電化學工作站系統采用“即插即用”模塊設計，系統擁有兩個“智能”的控制模塊：
還有多種擴展模塊可放大控制模塊的信號，用以對樣品施加大電壓/電流極化波形，以及放大/衰減高分辨率信號返回至控制模塊：
除此之外，更有拓展應用的光電選型模塊（也可直接選擇Modulab XM PhotoEchem光電化學測試系統） 交流掃頻及直流時域測試技術包括：IMPS，IMVS，阻抗，光電壓衰減，電量抽取技術，I-V曲線，IPCE 數據“自動”分析功能可直接得出光電樣品擴散系數和電子壽命 不僅系統通過“即插即用”可以用許多方式設定配置，而且可以由在一臺儀器上從單通道升級為多通道。從一個機箱一臺恒電位儀，到同一機箱搭配許多臺恒電位儀，或多個機箱、每個機箱各有多臺恒電位儀之擴充系統。多臺恒電位儀可用一部PC作控制，或者多部PC整合到一個系統中，從而依需要控制全部恒電位儀群組。同時，系統隨時都可增加額外的恒電位儀及選購件到每個機箱內。
模擬線性掃描
快速測量功能
靈活配置的系統及操作人性化的軟件 提供的軟件既靈活、功能豐富，又容易使用。提供大量的實驗類型可供選擇，從標準的開路、循環伏安法測試到復雜的包括樣品準備的多步驟順序、高級別的實驗技術及綜合的阻抗分析… 軟件提供在實驗開發所有階段的曲線圖形，所以用戶可直觀地確切看到要應用什么波形到電解池上。當參數被輸入軟件，將顯示實驗運行時應用到電解池的實時波形圖及連接圖，使用者可檢查電解池是否正確連接，并在實驗開始前作好調整。 軟件內的連接圖增強了拓展性能，使系統組態能快速簡便地再配置設定，以適應任何類型的測試。 軟件允許自由選擇數據采集模式，不管所選擇的實驗類型為何。例如，運行脈沖伏安實驗，可選擇高采樣速率，如此可分析脈沖的實際形狀(電壓與電流)，以便在脈沖上選擇的測量點。
特點
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高速恒電位/恒電流儀 | 模塊 |
系統核心模塊，運用了的數字信號處理器(DSP)技術．能提供準確的實驗控制、高速數據采集、數據平均及響應之安全性與步階限制。 特點如下：
| Pstat 1MS/s |
FRA 頻率響應模塊 |
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能在整個頻率范圍內，在下列所有操作模式下進行測量：
| FRA 1MHz (10μH z~1MHz) |
輔助電壓測定模塊 |
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提供4個(差分)輔助電壓輸入作為核心恒電位儀之選項，并且作為高電壓選項之標準安裝配備。輔助電壓輸入對系統是極為靈活的附加選項，一個控制系統最多可以測得5處的同步電壓/阻抗：
也可在輔助電壓輸入增加多路器，透過軟件的自動通道切換，對電池內幾乎無*的點進行測試 | Pstat AUX |
高電壓選項 |
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在測試燃料電池堆時，高電壓選項提供高極化電壓與輸出電壓的操作功能。 高電壓選項標準提供4個輔助通道(每個通道在與主參考輸入通道相同的高電壓范圍下操作)，能執行DC與阻抗測試，以在高電壓燃料電池堆中找出個別不良的電池。也可增加多路器，能在電池堆中測試需要測試的電池數(DC與阻抗)，請參考輔助電壓輸入選項之詳細資訊。 | HV 30 (30V) |
小電流選項(Femto安培計) |
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標準ModuLab的核心恒電位儀能夠達到1pA 的分辨率，這個分辨率對于許多類型的體系已足夠，但對于要求較高的應用，如：微電極研究、高阻抗電池薄膜、納米技術(納米碳管)及在*阻抗樣品上之腐蝕/涂料應用，可能需要更為靈敏的DC電流測量。 Femto小電流選項是設計用于解決極小主電流(100aA)分析。也可結合FRA與MHV高壓選項使用，以測量*阻抗體系(>100 TΩ ) | Femto Ammeter |
電流放大器選項 |
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ModuLab’s 的標準電流范圍可通過選項2A內置放大器而擴大，假如需要更大的電流，也可在系統增加外部功率放大器達50V/25A。 | Booster 2A |
主機插槽選項 |
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根據不同的模塊個數，按照預算選擇合適的主機箱。 | Chas 08 |
外部功率放大器選項 |
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如果儀器內置2A無法滿足您的應用，可以使用外置電流放大器放大恒電位儀的控制電流。
| Boost 12V20A (+12V/-3V，+20A) Boost 50V25A (+50V/-3V，-25A 僅放電模式) |
光電化學選項 |
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針對光電化學，如染料敏化，鈣鈦礦等太陽能電池，可見光譜的光電化學研究，例如氧化鐵媒介的光解水，都可以選配光電化學選項。 | PhotoEchem DSSC IPCE |
軟件 |
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系統標準配置軟件 | Modulab 軟件 |
對于熟悉先前電化學測試軟件如：Zplot 、CorrWare及MultiStat的顧客，現在在同一系列產品中有一新型且升級的套裝軟件稱為Zplot.Lab，提供許多增強的電化學功能。 | Zplot.Lab 軟件 |
儀器配置
可擴展模塊化設計
ModuLabXM 電化學工作站系統采用“即插即用”模塊設計，系統擁有兩個“智能”的控制模塊：
XM PSTAT 1M樣品/秒用于直流時域測試控制
- XM FRA 1MHZ用于交流頻域測試控制
還有多種擴展模塊可放大控制模塊的信號，用以對樣品施加大電壓/電流極化波形，以及放大/衰減高分辨率信號返回至控制模塊：
XM HV100/HV30—高電壓選項，槽壓及極化電壓均可達（100V/30V）
XM FEMTO AMMETER—小電流選項（達fA級）
- XM BOOSTER 2A—大電流選項（2安培）
應用
分析/基礎研究
ModuLab能夠在*數據采集速率下(達1Ms/s)執行測量，很適用于高速掃描、脈沖或步進分析技術如：快速循環伏安CV與一般/差動脈沖伏安NPV/DPV。
ModuLab提供超平滑掃描波形和所有階躍類型之高速數采模式選擇。因此，可輕易監測到電流對連續DPV脈沖之響應波形，以使測試結果達化。實驗順序具有靈活性，能將任何組合之技術自動按順序進行，并重復使用循環測試功能。
燃料電池、電池及超級電容
ModuLab系統能為電池研發而測試各種類型電池技術之特性；小型電池、超級電容器及應用于移動通信與PC應用的微型燃料電池，都可直接使用ModuLab進行測試。如要測試較高功率電池，恒電位儀可并聯連接、或在系統中增加選購外部功率放大器。
ModuLab提供許多專業技術，包括陰極/陽極阻抗測量。(能夠提供完整的電池阻抗特性，對于改善電池電極性能是很重要的)。此外，ModuLab也可提供燃料電池特性諧波分析結果的診斷信號，以判斷電池狀況是否良好。
選購組合如：輔助通道、高槽壓、功率放大器及頻率響應分析儀，是用于對一個電池組內的多個電池或燃料電池堆連續運行阻抗及DC測試，以便在各別電池內尋找過早劣化之跡象。全部電壓達到100V這么高的燃料電池堆，也可直接選配模塊化電化學系統進行分析。
腐蝕與涂層
ModuLab是個*浮地的系統，可在最困難的情況下進行測量。高電壓及femto(毫微=10-15)安培計選購在測試*阻抗抗腐蝕涂層時提供更多的可能性。本系統也提供等效電路及Tafel數據模擬技術、線性極化電阻測量及腐蝕結果分析。
納米技術/微電極
從一開始，ModuLab就設計用于測量在超微電極如：納米碳管及原子力顯微鏡(AFM)針尖上的電極過程。ModuLab的femto安培計選購，結合了廣泛組合的電化學測量技術，提供超低電流下動電位與動電流測量功能。與頻率響應分析儀組合，可執行*阻抗(>100TΩ)測量。
光電化學
鈣鈦礦太陽能電池
燃料敏化太陽能電池
光解水陽極研究
光電化學研究
基于頻域及時域的測試，包括 IMPS, IMVS, 帶光強控制的電化學阻抗譜EIS ；電量抽取；光電壓衰減；I-V曲線測試用于填充因子，轉換效率及光功率測試。
“自動”數據分析，“一鍵式”計算“有效擴散系數”及“電子壽命”
IPCE (入射光子轉換效率)
