MLB－300CD型引伸計標定儀
MLB－300CD型引伸計標定儀，是一種純機械式的高精度位移測微儀器。依據JJG762－92引伸計檢定規程要求，專門用于對各類引伸計的標定，也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應百分表、千分表的檢定。
結構特點及讀數方式
1、本儀器由精密微分測頭及測量支架組成。該標定儀是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合，同時配有加長立柱附件，配有圓柱、板、刀片等多種形式的分離試樣，可以方便地進行多種規格型號引伸計的計量標定。用戶還可以根據自己的測試特殊需要，配置專用配件進行精密微變形量計量。
2、精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒、讀數內筒、讀數外筒及高精密螺紋付組成。其量程30㎜； 最小分度（游標分度）0.0002㎜；旋轉外筒分度0.002㎜。
位移變化讀數為：
L=（a+0.001b+0.0001c）-(a0+0.001b0+0.001c0)
其中：a－內筒毫米刻線讀數
b－外筒刻線讀數
c－游標刻線讀數
a0 b0 c0 為相應位移變化前讀數
精密微分筒
二、各項技術精度指標
1、測量引伸計標距范圍Ｌmax 500㎜
2、測量支座上支臂安裝孔徑 φ10；φ28
3、微分測頭讀數內筒軸向刻度 0.5㎜/格
4、微分測頭讀數內筒游標刻度 0.0002㎜/格
5、微分測頭讀數外筒園周刻度 0.002㎜/格
6、高精密微分測頭精度指標
標定儀示值誤差：
量程0.5㎜以內≤0.5μm 誤差
量程0.5㎜以上≤0.10% 逐點相對誤差
參照標準：
JJF1096-2002 引伸計標定器校準規范
ISO9513:1999 金屬材料單軸試驗用引伸計標定
JJG762-1992 引伸計檢定規程
可進行0.5級引伸計的標定
三、使用說明
請依據JJG762－92引伸計檢定規程要求，進行引伸計的檢定：
1、根據被檢引伸計的規格型號及測試的試樣規格，選擇與測試試樣基本一致的分離試樣。
2、調整兩測量支臂的位置，獲得適宜的檢定空間；調整兩測量支臂上偏心卡簧位置以使兩分離試樣保證同軸；調整測微頭與下底座的距離，以保證測微頭的有效行程。一切調整好后注意旋緊各個所需固緊部位，在檢定過程中除準許運動位移的部分外，都不準許有任何滑動或松動。
3、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試：
（1）檢定范圍應根據引伸計需要測試材料的技術參數決定。例如，使用50㎜標距引伸計測試鋼材試樣的σP0.2技術數據，那么請您選擇1㎜的檢定量程。如果測量n值則需要檢定25㎜的檢定量程。
（2）對檢定點的選擇，一般每個范圍不少于8點。對于上述選例在1㎜的檢定量程內，檢定10點，即每0.1㎜檢一點。
（3）檢定引伸計時一定用整數刻度倍讀法，不要用游標估算讀數或小數尾數讀數，因為每一次的十點讀數已造成了讀數的疲勞，估算讀數或小數尾數。
讀數會加劇測量誤差的產生。而整數單刻線對整讀法最清晰簡單準確，出現誤差的機率最小，即便出現也會及時發現，因為整數刻度倍讀數的誤差，其引伸計誤差值也會成倍數增加，這種粗大誤差會被很快及時發現。
4、加長立柱的使用：在使用基本立柱檢定引伸計時，無法保證該引伸計的標距空間時，取掉基本立柱上保護帽，將加長立柱插入主立柱對準V型槽，旋緊上螺絲。一定要固緊后，方可使用。
四、隨本儀器配有測量附件
1、組合校準桿2件。用于組合多種模擬分離試樣。
2、刀片4件。裝置于組合校準桿上：用于COD或JIC夾規檢定。
3、橫試片2件。裝置于組合校準桿上：用于橫向引伸計的檢定。
4、板件2件。裝置于組合校準桿上：用于模擬板材試樣的檢定。
5、φ10×100桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。
6、φ10×50桿件1件。置于測微頭連接套內用于模擬10㎜以上直徑試樣的檢定。
7、φ10/φ5×100變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。
8、φ10/φ5×50變徑桿1件。置于上支臂卡簧孔內用于模擬5㎜以下直徑試樣的檢定。
9、170㎜加長立柱1件。用于延長標定儀高度。
10、聯接套1件。置于微分測頭滑動量桿φ10端頭上，連接分離試樣進行檢定。
11、為調試及安裝方便，隨儀器配有14號呆扳手一把、3號內六角扳手一把、一字頭、十字頭螺絲刀各一把。
測量附件
五、維護與保養
1、上、下支臂拆裝時，應防止定位釘或鋼球的脫落，抱緊卡口過緊只允許用螺釘頂開。
2、器出廠時微分頭精度已調校，使用中不得自行拆卸。
3、應在清潔無塵環境使用，并注意隨時保持儀的清潔無塵。
4、注意防止外力損傷及銹蝕的產生。
5、定期交有關計量部門復檢。
