光度計廠家
Asteria可以提供兩種配置：鏡頭配置可以用于測量亮度(cd/m²)和flicker。余弦校正探頭配置可以用于測量照度(lux)和flicker。
Asteria系列特點：
亮度或者照度測量，探測器響應匹配人眼響應曲線（CIE1931）
支持液晶行業(Contrast,JEITA,VESA)和燈具行業(percentage, Index)所有6種flicker計算方法.
所有計算儀器內部完成，包括JEITA，便于系統集成
得益于高速的采樣頻率和大的內存，可以同時測量高頻信號和低頻信號（比如1Hz）
支持外部觸發功能，適合產線應用
支持大部分的編程語言Labview / Labwindows / Visual Studio (C++, C#, VB)/ 等
USB和RS232通訊接口
光度計廠家
基本參數
| 探測器 | 硅光二極管 |
| 光譜響應 | 接近CIE1931色度匹配曲線 |
| 測量參數 | 亮度, 照度, Flicker, 響應時間 |
| 光學系統 | 接收角度5°(±2.5) |
| 測量光斑尺寸 | 12mm@50mm工作距離；19mm@100mm工作距離 |
| 測量速度 | 180,000 次/秒. 儀器內存可存儲250,000 個測量數據. |
| 長、寬、高 | 69x31x93 mm (不含鏡頭部分) |
| 固定方式 | 儀器各面都有12xM3 螺孔 |
| 重量 | ~0.35 kg |
測量參數
| 參數 | 范圍 | 準確性 | 重復性 |
| 分辨率 | 15bit for X,Y and Z | >78dB | |
| 亮度(Y) | 0.002cd/m2-15000cd/m2 積分時間1ms-5s之間 | ±4%測量值 | Y:±0.2% for Y at 0.1cd/m2 |
| Y:±0.1% for Y at 1cd/m2 | |||
| Y:±0.05% for Y at 5cd/m2 | |||
| Y:±0.03% for Y at 150cd/m2 | |||
| 測量速度 | 4-10次/秒(0.1cd/m2); 10-20次/秒(1cd/m2); 20-100次/秒(>5cd/m2); | ||
| Flicker (contrast method) | 1cd/m2或更高亮度 | ±2% Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave @ 10Cd/m2 | ±1%
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| Flicker (Jeita method) | 1cd/m2或更高亮度
| ±2dB Flicker frequency:30Hz AC/DC 10% sine wave @ 10Cd/m2 | ±1dB
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| 工作溫度 | 10-35℃ | ||
光譜范圍
包括波長范圍為400~760 nm的可見光區和波長范圍為200～400 nm的紫外光區。不同的光源都有其*的發射光譜,因此可采用不同的發光體作為儀器的光源。分光光度計圖片(4)鎢燈的發射光譜:鎢燈光源所發出的400～760nm波長的光譜光通過三棱鏡折射后,可得到由紅橙，黃綠，藍靛，紫組成的連續色譜;該色譜可作為可見光分光光度計的光源。
