CST-50沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)目前國內(nèi)大用戶的實際需求和GB/T 229-2007《金屬材料 夏比擺錘沖擊試驗方法》中對沖
擊試樣缺口的要求而設(shè)計、開發(fā)的一種新型光學(xué)儀器,專用于檢查夏比V型(深2mm)和U型(深2mm)沖擊試樣缺口加工質(zhì)量。
本設(shè)備是利用光學(xué)投影方法,將沖擊試樣缺口輪廓放大投射到投影屏上,與投影屏上沖擊試樣V型或U型缺口標準樣板圖比對,以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格。本設(shè)備僅需電源,操作簡便,檢查對比直觀,效率高,體積小,便于移動,易維護。
沖擊試驗對于沖擊試樣缺口要求嚴格,缺口的微小變化,都會引起試驗結(jié)果出現(xiàn)較大偏差,為保證加工出的
沖擊試樣缺口合格,缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的控制手段。目前用光學(xué)投影放大檢查是切實可行,并
能保證沖擊試樣缺口質(zhì)量的方法。