OLED 器件IVL壽命和EQE三合一光學(xué)測試系統(tǒng)
為滿足科研類測試的需求，弗士達(dá)提供集成IVL測試和視角測試、壽命測試、光通量和外量子效率測試功能的多合一機(jī)臺(tái)。
OLED 器件IVL壽命和EQE三合一光學(xué)測試系統(tǒng)
為滿足科研類測試的需求，弗士達(dá)提供集成IVL測試和視角測試、壽命測試、光通量和外量子效率測試功能的多合一機(jī)臺(tái)。
高精度多通道電源為多工位壽命測試提供定電流或定電壓輸出，光譜儀逐一掃描各工位得到器件的亮度。使用光通量測試用積分球和光纖光譜儀可準(zhǔn)確測量器件的外量子效率，將器件置于積分球內(nèi)部進(jìn)行光通量和外量子效率的測量，內(nèi)置的校正A光源可提升光通量測試準(zhǔn)確性。
軟件介紹
● I-V-L曲線測量的設(shè)定
• 可以設(shè)定起始電壓、終止電壓、電壓步長，進(jìn)行連續(xù)的測量
• 可以設(shè)定起始電流密度、終止電流密度、電流密度步長，進(jìn)行連續(xù)測量
• 可以單獨(dú)設(shè)定電流密度的亮度檢測下限值，低于下限值時(shí)僅測電流電壓，超過下限值后同時(shí)測電壓電流亮度等數(shù)據(jù)
• 可以設(shè)定并保存設(shè)定的機(jī)種參數(shù)，下次測量時(shí)可以直接調(diào)用
● I-V-L的測量數(shù)據(jù)
• 測量的結(jié)果包括：亮度L(cd/m2)、電流效率(mA/cm2)、發(fā)光效率、外量子效率、色坐標(biāo)(x，y)、色溫、顯色指數(shù)CRI、發(fā)光光譜
• 輸出的測量項(xiàng)報(bào)表中的圖表包括：Cdens-V、Cdens-L、Cdens-LumE、 Cdens-EQE、 CIE1931、Spectra
